[可靠性测试] 丰富您的IC老化测试 日期：2023-01-29 13:26:03 点击：480 好评：6
芯片老化测试对于芯片测试至关重要，但是需要注意哪些要点，本次的文章，咱们就来聊一聊。根据以往的经验，我总结出了9个担忧，DFT工程师可以根据这9个点来思考并丰富您的芯片...
[可靠性测试] IC芯片可靠性测试 日期：2023-01-11 15:07:27 点击：744 好评：0
可靠性测试基本概念 质量:一组固有特性满足要求的程度质量是对满足程度的描述，满足要求的程度的高低反映为质量的好坏，在比较质量的优劣时，应注意在同一等级上进行比较可靠性:产品...
[可靠性测试] 集成电路芯片失效模式及分析详解 日期：2022-12-06 13:24:59 点击：1265 好评：0
集成电路芯片失效模式及分析详解 半导体封装工程师之家 2022-11-07 21:30 发表于 广东 欢迎咨询...
[可靠性测试] 车规芯片的AEC-Q100测试标准 日期：2022-12-05 15:24:27 点击：859 好评：10
车规芯片的AEC-Q100测试标准 原创 陈卓HNU 一名汽车电子硬件工程师 2022-09-06 22:50 发表于 广东 收录于合集 #芯片 1个 距离上一次发文章已经过去了10个月了，这10个月里，不想错过跟小孩待...
[可靠性测试] Wire Bond可靠性——高温老化期间引线键合空洞形 日期：2022-12-05 14:54:25 点击：657 好评：0
Wire Bond可靠性 高温老化期间引线键合空洞形成探讨 RFIC封装攻城狮之家 2022-09-26 00:22 发表于 广东 杨建生（天水华天科技股份有限公司） 摘要： 在金 - 铝金属间化合物相中形成的空洞，...
[测试工程] 闩锁效应与“热插拔” 日期：2022-07-30 17:18:21 点击：2147 好评：8
闩锁就是指CMOS器件所固有的寄生可控硅（SCR）被触发导通，在电源与地之间形成低阻抗大电流通路的现象。这种寄生SCR结构存在于CMOS器件内的各个部分，包括输入端、输出端、内部反相器等。...
[测试工程] WAT测试与数据 日期：2022-07-30 17:10:19 点击：3080 好评：8
WAT的目的是通过测试晶圆上特定测试结构的电性参数，检测每片晶圆产品的工艺情况，评估半导体制造过程的质量和稳定性，判断晶圆产品是否符合该工艺技术平台的电性规格要求。WAT数据可以...
[测试工程] 功率器件结温监测技术 日期：2022-07-30 16:51:42 点击：150 好评：0
新能源汽车领域是功率半导体行业的主要驱动力，相比传统汽车，新能源汽车需要用到更多功率半导体器件。2025年，国内汽车功率半导体市场规模将达250亿元，行业正迎来快速发展期。...
[测试工程] 关于MOSFET 老化测试中的结温计算 日期：2022-07-23 13:14:39 点击：2653 好评：4
计算IC的散热要求。 设计人员必须考虑两种不同的情况：最坏情况和真实情况。建议采用针对最坏情况的计算结果，因为这个结果提供更大的安全余量，能确保系统不会失效。在MOS管的...
[测试工程] 微电子封装的失效及其可靠性 日期：2022-07-03 21:41:21 点击：796 好评：6
一篇非常不错的失效分析及可靠性知识介绍，值得学习！ 副标题 副标题...
