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集成电路测试(四)——基于V93000的Digital Captu

时间:2024-11-12 19:32来源:深测芯 深测芯检测认证 作者:ictest8_edit 点击:

 

   1、概念  

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数字捕获(Digital Capture)是爱德万V93K的SmarTest软件中一项关键功能,其核心在于以高数据速率捕捉设备大量不可预测的数字输出,并将这些数据存储以供后续分析与处理。在实际应用中,数字捕获常用于测试模数转换器,或读取具有任意内容的寄存器或存储器。
 
 
  
01.Digital Capture的传输模式
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使用Digital Capture需要设置与数字捕获相关的参数,例如Capture 引脚、传输模式、数据位宽等。其中传输模式有两种,分别为串行和并行传输模式,如下图。
 
 
Parallel (并行传输)
 
• Initial Skip Samples:每个测试系统周期初始要跳过的样本数。
• Frame Length in Samples:指定Capture 引脚的读取样本数,以此形成一帧。
• Frame Count: 要读取的帧数。
• Skip Samples: 读取一个样本后要跳过的样本数。
• Inter-Frame Skip Samples: 帧之间要跳过的样本数。
例:
 
 
 
Serial(串行传输)
 
• Bits per Word: 初始位数跳过后的每字位数。每字位数的值(最大 32)越高,生成的上传性能越快。Note:捕获样本中的位按 MSB(高位) 到 LSB(低位) 的顺序组装。
• Initial Skip Bits: 要跳过的初始位数。
• Sample Length in Bits: 每个采样的位数。
• Sample Count: 采样数。
• Skip Bits: 读取一位后要跳过的位数。
• Inter-Sample Skip Bits:每次采样之间要跳过的位数。
例:
 
 
02.Digital Capture应用范围

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在以下测试中经常需要数字捕获:

(1)脉宽测试:根据被测信号的电压范围,设置待测引脚的VOH/VOL。使用Digital Capture捕获待测信号的电平逻辑,并将每个采样点的电平逻辑存储在数组中,最后从该数组中计算逻辑1或逻辑0的点的数量,通过点的数量即可计算出信号的脉宽参数。

(2)ADC测试:ADC测试最重要的是如何抓取输出端的数字信号,通过使用Digital Capture功能将ADC输出端的数字信号存储在数组中。然后,将这些数据使用直方图法或FFT计算出ADC的静态或动态参数。

(3)存储器测试(擦除时间):擦除时间是指将存储器中的所有位置1所需的时间。这个过程可以通过捕获存储器中某个寄存器中数据位的变化来反映此时的擦除操作的完成状态,从而计算出所需的参数。

例如GD25Q127C中Register-1(S7-S0),其中S0(WIP)位表示存储器是否处于读取/擦除/写状态。当WIP为1时,表示设备正处于读取/擦除/写状态中,当WIP为0时,表示设备不在读取/擦除/写状态中。使用Digital Capture捕获WIP的电平逻辑,存储在数组中,通过计算数组中逻辑1的点数,即可计算出存储器的擦除时间。

总而言之,Digital Capture功能可以更精确地捕获待测器件的数字信号并存储在数组中,它类似于逻辑分析仪的功能,但更加灵活和可编程,极大方便测试工程师测试某些特殊测试项。
 
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