  题图来源于网络 Right Now (Na Na Na),Akon - Freedom 之前说过，一个测试工程师不做数据分析，基本上也就是说他根本就还没理解一个测试工程师的基本职责。这里把一些测试数据的名词做一些介绍。 Binning 这个简单来讲就是对测试过后的Unit进行一个分类。我们对于芯片进行测试，最终目的是需要把里面的良品，不良品进行区分。所以需要有一个分类的概念。一般的来讲，分Bin从Bin1开始，Bin2，Bin3，Bin4这样分类下去。可以定义里面某几个Bin 是良品，某些是不良品。行业默认Bin1 是良品，根据定义，还可以把良品分级。比如Bin1 是良品，Bin2是性能不如Bin1，或者少了某些功能的次级良品等。 一个程式里面，一般存在两种分类。Hard Bin 和Soft Bin。Hard Bin是跟硬件挂钩的，也就是控制机械手把实际的芯片放到指定位置（Tray，Tube，Buket）的分类，这个分Bin的数量是受实际机械手的限制的。一个机械手最少需要两个分类，良品和不良品。Soft Bin是程式定义的，这个是为了补充Hard Bin 不足由写程式的人定义的。比如机械手只支持六个Bin，但是我们需要监控的测试项目有几十个，为了方便分类，可以定义很多几十个Soft Bin，方便后面看到测试结果分Bin就知道是什么测试项目。这个Soft Bin 的数量理论来讲是没有限制的，比如很多新出来的测试机（比如 J750/Ultra/V93000等），Soft Bin 是由工程师自己定义的，Soft Bin 编号也是可以随意的。不过也有很多机台对Soft Bin 有限制，自我发挥的空间不大。比如Eagle只支持32个Soft Bin，当时应该是为了方便统计和规范程式开发设计的现在，一般也够用了。因为这个Soft Bin和Hard Bin数量一般来讲是不一致的，而机械手识别的是Hard Bin，所以就有一个Soft Bin和Hard Bin 的对应关系。这个需要看程式里面的具体定义。 Summary 一个批次的芯片测试完成后，需要生成一个测试报表，来告知操作员，这一个批次的测试汇总结果。良品多少，不良品多少等，我们称之为Summary。 测试Summary提供的是一个统计的信息来告知测试的结果。下面是一个比较好的Summary的式样。一个好的Summary应该包含测试时间，进去的数量，出来的好品的数量，程式名，机台号，测试批次的信息，各个测试项目的数量，占比，每个Bin 的数量和占比，能够分测试站进行统计做对比就更好了。总之，从一个测试的summary里面，应该读到尽可能多的信息。如果一个测试summary只能提供某部分信息，比如只提供进去和出来的数量，对于量产来讲，基本上价值不高。对于量产来讲，还需要考虑之上的信息，尽量能够用一张纸能够呈现出来，方便打印。这部分也是不同的平台有不同的格式的Summary会对代工厂带来烦恼的地方。  Datalog 顾名思义，这也就是一个测试数据的记录。也是我们一般所说的，测试工程师不能只看是Pass 还是Fail，还应该看测试的值所应该看的东西。里面应该包含一颗芯片测试的所有方面的数据。每个测试项的测试名称，测试编号，测试的测值，上下限，测试结果Pass还是Fail，分Bin的信息等，不同的产商有不同的Datalog格式，有的测试平台Datalog 里面还会包含Pin的名字。我们做debug 的时候，也是需要去看到Datalog 具体项目，测值，从这边去找到一些信息，然后去分析跟哪些方面相关。  Datalog是真正的测试数据的记录，不过很多平台考虑到存储的性能，在量产时会选择按一定比率存储Datalog，比如每五十颗存储一颗。这样能够节省存储时间，尤其在一些老旧测试机平台上，提升很明显。但是对于整体的数据分析时，我们需要考虑到这一点带来的影响。 STDF STDF（Standard Test Data Format：标准测试数据格式），是由Teradnye公司在1995年定义，应用到自己家开发的所有测试机平台并推广，现在已经成为事实上应用到整个ATE行业的一种测试数据标准格式。  STDF是为了统一不同测试机产商保存的原始数据格式应运而生的。不同的测试机产商开发原始数据有不同的格式，也就是对于使用者来讲，多个平台需要多个专门的软件来打开生成的原始数据做分析，造成使用者困扰。而如果不同的产商按STDF定义的格式生成一份测试的数据，这样可以通过统一的工具来转换出来，方便了使用者进行分析。而不会造成一个分析工具只能分析特定平台的数据的问题，这也是标准化的好处。目前比较新的测试平台基本都支持生成STDF格式的测试数据了。 基本上，测试的数据也就这几种了，其中最重要，最需要看的是Summary和Datalog，很多时候看这两个就能够看出来比较多的东西。分析一个问题的时候，也从这两份数据中能找到分析的方向。至于通过STDF， 或者转Datalog到excel打开做一些统计分析的，那是更进一步的要求了。 最后，对于一个刚入门芯片测试领域的新人，推荐《The Fundamentals of Digital Semiconductor Testing book》和《An Introduction To Mixed-Singal IC Test and Measurement》，里面的一些章节对于一些基本的测试原理，以及测试名词，测试概念还有数据分析有一个很好的介绍。 |
