[测试理论] 详解DFT之SCAN TEST 日期：2022-04-22 14:52:38 点击：3389 好评：0
什么是boundaryscan 边界扫描是一种测试技术，其设计的器件在每个器件引脚和内部逻辑之间放置了移位寄存器，如图 1 所示。每个移位寄存器称为边界扫描单元。这些边界扫描单元允许您...
[测试理论] 详解芯片测试之DFT 日期：2022-04-22 14:38:17 点击：4104 好评：6
dft 是什么 可测试性设计（Design for Testability）是一种集成电路设计技术。它是一种将特殊结构在设计阶段植入电路的方法，以便生产完成后进行测试，确保检测过后的电子组件没有功能...
[测试理论] 简单聊聊芯片DFT测试之ATPG 日期：2022-04-22 13:37:26 点击：3041 好评：4
Test pattern generation (TPG) 是为给定故障模型生成test pattern的过程。如果我们通过详尽的测试，在最坏的情况下，我们可能需要 2n 个（其中 n 代表input的数量）分配来找到single stuck-at fault的...
[测试理论] 芯片测试科普 日期：2022-04-21 17:33:38 点击：5666 好评：45
作为一个芯片设计公司（fabless）,我们也非常关注集成电路产业链的各个环节，以此更好地给客户提供价值。 这次我们给大家说说芯片测试相关。 1、 测试在芯片产业价值链上的位置 如...
[测试理论] 50Ω阻抗问题详解及射频电路设计中的阻抗匹配问 日期：2022-04-20 14:27:03 点击：563 好评：8
为什么很多射频系统或者部件中，很多时候都是用50欧姆的阻抗。有时候这个值甚至就是PCB板的缺省值，为什么不是60或者是70欧姆呢？这个数值是怎么确定下来的，背后有什么意义？本...
[测试理论] 详解WAT（晶圆接受测试，Wafer Acceptance Test） 日期：2022-03-30 15:40:14 点击：4241 好评：6
以前做业务的时候，经常问同事，集成电路的工程师到底关注晶圆或者器件的什么性质，哪些性质是通过实验设备测得的，哪些可以是通过模拟仿真获得的。同事就说去看WAT或者集成电...
[相关技术] C语言入门基础二 日期：2022-03-24 20:56:49 点击：561 好评：9
格式化输出语句 格式化输出语句，也可以说是 占位输出 ，是将各种类型的数据按照 格式化后的类型及指定的位置 从计算机上显示。 其格式为：printf(输出格式符，输出项); 当输出语句...
[测试基础理论] LDO的PSRR参数的几种测量方法 日期：2021-07-15 18:38:03 点击：2419 好评：18
LDO的PSRR参数是Power Supply Rejection Ratio的缩写，即电源纹波抑制比。它是指输入纹波与输出纹波的比值，通常是以对数形式表示。 PSRR=20*log[Ripple(VIN)/Ripple(VOUT)] 单位为分贝(dB)。例如，PSR...
[测试基础理论] 集成电路芯片测试小结 日期：2018-06-14 09:41:22 点击：10929 好评：199
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成，晶圆制造和芯片封装讨论较多，而测试环节的相关知识经常被边缘化，下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容...
[测试基础理论] 什么是拉电流 、灌电流、吸收电流 ? 日期：2018-06-13 09:20:39 点击：3727 好评：119
拉电流和灌电流是衡量电路输出驱动能力（注意：拉、灌都是对输出端而言的，所以是驱动能力）的参数，这种说法一般用在数字电路中。 这里首先要说明，芯片手册中的拉、灌电流是...
