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  • [测试设备] 一文弄懂干簧管的原理和应用 日期:2022-06-05 12:46:37 点击:623 好评:4

    干簧管(磁簧开关)是一个通过磁场操作的电开关。 它的工作原理是,当外部有磁场靠近时,在两个簧片被磁化产生不同极性的磁场,当磁场强度足够是,两个簧片就会吸合到一起,这样开关...

  • [测试理论] 关于I2C总线上拉电阻的一点探讨 日期:2022-06-05 12:40:37 点击:469 好评:0

    在一些PCB的layout中,大家往往会看到在I2C通信的接口处,往往会接入一个4.7K的电阻,有的datasheet上面明确有要求,需要接入,有的则没有要求。 I2C总线接口电路 对于单片机来讲,有些...

  • [测试理论] MOSFET的SOA或者ASO是什么? 日期:2022-06-05 12:25:12 点击:707 好评:-2

    SafeOperating Area(SOA) 有的厂家将他称之为 Area of Safe Operation (ASO) 安全工作区:SOA(Safe operating area)是由一系列(电压,电流)坐标点形成的一个二维区域,开关器件正常工作时的电压和电流...

  • [测试理论] RF 芯片测试的一些简单知识 日期:2022-05-04 11:15:18 点击:345 好评:15

    PA 是进入射频测试的基础,也是比较经典的产品,市场空间比较大。楼主刚涉足这个领域,所以最近一段时间一直在研究PA类型的产品测试。 射频领域的书籍很多,但是射频芯片测试书...

  • [测试理论] 详解IGBT原理,参数及应用技术 日期:2022-05-04 09:07:48 点击:591 好评:2

    前言 01 大家好,本文 主要介绍了大功率IGBT模块应用中的一些技术,包括参数解读、器件选型、驱动技术、保护方法以及失效分析等,内容相对浅显易懂,比较适合初学者! 图片来源于...

  • [测试理论] 详解 DFT 之 IBIST 日期:2022-04-22 15:04:40 点击:1954 好评:10

    LBIST 是一种内置自测 (BIST) 形式,其中芯片内部的逻辑可以在芯片本身上进行测试,而无需任何昂贵的自动测试设备 (ATE)。BIST 引擎内置于芯片内部,只需要像测试访问端口 (TAP) 这样的访...

  • [测试理论] 详解DFT之SCAN TEST 日期:2022-04-22 14:52:38 点击:2303 好评:0

    什么是boundaryscan 边界扫描是一种测试技术,其设计的器件在每个器件引脚和内部逻辑之间放置了移位寄存器,如图 1 所示。每个移位寄存器称为边界扫描单元。这些边界扫描单元允许您...

  • [测试理论] 详解芯片测试之DFT 日期:2022-04-22 14:38:17 点击:3214 好评:6

    dft 是什么 可测试性设计(Design for Testability)是一种集成电路设计技术。它是一种将特殊结构在设计阶段植入电路的方法,以便生产完成后进行测试,确保检测过后的电子组件没有功能...

  • [测试理论] 简单聊聊芯片DFT测试之ATPG 日期:2022-04-22 13:37:26 点击:2189 好评:4

    Test pattern generation (TPG) 是为给定故障模型生成test pattern的过程。如果我们通过详尽的测试,在最坏的情况下,我们可能需要 2n 个(其中 n 代表input的数量)分配来找到single stuck-at fault的...

  • [测试理论] 芯片测试科普 日期:2022-04-21 17:33:38 点击:4746 好评:45

    作为一个芯片设计公司(fabless),我们也非常关注集成电路产业链的各个环节,以此更好地给客户提供价值。 这次我们给大家说说芯片测试相关。 1、 测试在芯片产业价值链上的位置 如...

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