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名称 |
缩略语 |
中文描述 |
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Automatic Test Equipment |
ATE |
自动化测试设备 |
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Arbitrary Waveform Generator |
AWG |
任意波形发生器 |
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Force Current Measure Voltage |
FIMV |
加流测压模式 |
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Force Voltage Measure Current |
FVMI |
加压测流模式 |
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Force Null |
FN |
无施加模式 |
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Final Test |
FT |
最终测试 |
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Binning(Bin) |
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测试筛选分类 |
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Built-In Self Test |
BIST |
内建自测试 |
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Device Under Test |
DUT |
被测器件 |
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Pre/Post Burn-in (option) |
BI |
老化测试 |
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Quality Assurance Test |
QA |
质检 |
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Input High Voltage |
VIH |
高电平输入时的最低电压限制。 |
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Input Low Voltage |
VIL |
低电平输入时的最高电压限制。 |
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Output High Voltage |
VOH |
高电平输出时的最低电压限制。 |
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Output Low Voltage |
VOL |
低电平输出时的最高电压限制。 |
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Input High Current |
IIH |
输入引脚逻辑为高电平时，允许的最大灌电流。 |
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Input Low Current |
IIL |
输入引脚逻辑为低电平时，允许的最大漏电流。 |
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Output High Current |
IOH |
输出引脚逻辑为高电平时，驱动 / 拉电流（source）的大小。 |
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Output Low Current |
IOL |
输出引脚逻辑为低电平时，灌电流（sink）的大小。 |
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Voltage Reference |
VREF |
是Dynamic Loading的参考电压。并控制电流IOL和IOH (详情请参见图 X)。 |
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Clamp |
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是测试系统在硬件上对电流和电压值的限制，这对测试人员、测试机台和芯片起保护作用。 |
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Device Power Supply |
DPS |
其主要作用给芯片提供大电流和高电压。我们一般将其和芯片的VDD相连。 |
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Reference Voltage Supply |
RVS |
它主要向PE Cards的驱动和比较电路提供逻辑的0、1电平。 |
Test Vectors/
pattern |
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同功能测试相配合，定义芯片引脚不同时刻的状态。它有输入、输出两种状态，我们根据测试向量给某些引脚灌入输入信号，并在某些引脚比较输出波形，由此来判断功能测试的通过与否。其也可称为Test Pattern。 |
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Per Pin PMU |
PPMU |
每引脚精密测量单元 |
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Precision Measurement Unit |
PMU |
精密测量单元 |
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Time Measurement Unit |
TMU |
时间测量单元 |
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Site |
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测试工位 |
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Socket |
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芯片插座 |
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Yield |
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良品率 |
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Relay |
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是速度极快的继电器，主要实现让芯片在不同外围电路之间切换。 |
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Utility relay Pin |
UR |
外部继电器 |
