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IGBT 可靠性与寿命评估研究

时间:2023-05-12 13:51来源:半导体封装工程师之家 作者:ictest8_edit 点击:

《汽车电器》
 摘要
 

IGBT 作为新能源汽车电机控制器的核心部件,直接决定了电动汽车的安全性和可靠性。本文主要介 绍采用热敏感电参数法提取 IGBT 结温,并结合 CLTC 等试验工况得出对应结温曲线,通过雨流分析、Miner 线性累 积损伤准则等评估整车寿命周期内 IGBT 模块的热疲劳寿命,最后结合电机控制器总成的试验现状,提出总成级试 验中进行 IGBT 加速试验的可行性方案。
IGBT是能源变换与传输的核心器件,俗称电力电子装置 的“CPU”。在新能源汽车中,IGBT直接控制驱动系统直、交 流电的转换,决定了车辆的扭矩和最大输出功率等,是汽车 动力总成系统的“心脏”。在新能源汽车中大量使用了IGBT 功率器件,例如:电控、OBC、空调系统及充电桩等,如图1 所示。据统计,IGBT等功率器件占到整车成本的7%~10%。 
 
在电机控制器中,IGBT将动力电池的高压直流电转换 为驱动三相电机的交流电,为电机提供动力。在汽车运行 过程中,启停、频繁加减速等会使IGBT模块功率发生变化, IGBT结温也会随之不断循环变化,温度变化产生的热应力 会使模块内部焊层之间产生蠕变热疲劳或失效。因此,IG- BT模块的结温变化是影响其工作寿命与可靠性的主要因素。本文采用热敏感电参数法提取IGBT结温,并结合CLTC等试 验工况得出对应结温曲线,通过雨流分析、Miner线性累积 损伤准则等分析和评估整车寿命周期内IGBT模块的热疲劳 寿命,提出在总成级试验中进行IGBT加速试验的可行性方案。 
 
1 IGBT概述 

 
1.1 什么是IGBT
IGBT (Insulated Gate Bipolar Transistor,绝缘栅双极型 晶体管) 是由双极结型晶体管 (BJT) 和金属-氧化物-半导 体场效应晶体管 (MOSFET) 复合而成的结构,如图2所示。
 
它结合了两者的优点,具有输入阻抗高、功耗小、热稳定 性好、驱动简单、载流密度大、通态压降低等优势。 

1.2 IGBT的结构

IGBT由芯片、覆 铜陶瓷衬底、基板、 散热器等通过焊接而 成,如图3所示。 
 

1.3 IGBT的热特性 

热特性是IGBT功 率器件的灵魂。芯片 工作产生的热量通过 不同的介质、界面传 递到散热器,将热量 散出,传递路径的热阻用Rthjc来表示,如图4所示。
 
 IGBT模块的发热主要来源于功率损耗。功率损耗包括 IGBT损耗和FWD损耗,其又分为开关损耗和导通损耗,如 图5所示。功率损耗与电流Ic、饱和压降Vce、开关频率等多 因素有关。
 

2 IGBT可靠性要求  

 
2.1 IGBT模块可靠性要求 
对于车规级IGBT模块,由于使用环境严酷,工况复杂, 寿命要求高,因此对IGBT模块性能和可靠性提出了越来越 高的要求,如图6所示。

2.2 电控总成可靠性试验现状 
据统计,IGBT损坏引起的故障占电控售后问题的首位, 是电控总成的短板。根据“木桶”原理,解决IGBT失效问 题对于降低电控总成失效率非常重要。但是,目前电控总 成可靠性试验主要参考707企标,没有考虑功率器件产品自 身发热引起的温度变化,也没有考虑冷却液循环带来的温 度稳定,比较适用于低压电气产品可靠性试验,对功率器 件产品不适用。如何在电控总成试验中加速IGBT的老化磨 损将是我们需要重点研究的课题。电控问题统计柏拉图如 图7所示。
 

2.3 IGBT模块可靠性试验 
对于车规级IGBT模块,AQG 324、QC/T 1136等标准对 可靠性均有相关要求。以QC/T 1136为例,IGBT模块可靠性 包括芯片可靠性和封装可靠性,如表1所示。
 

2.3.1 功率循环试验 (主动) 
1) 功率循环试验 (PCsec/PCmin):检验绑定线与芯片的 连接点可靠性以及芯片与DCB焊接层的可靠性。功率循环试 验 (PCsec) 曲线如图8所示。 
 
2) 功率循环 (PCmin):检验绑定线与芯片的连接点可靠性,芯片与DCB焊接层的可靠性以及DCB与Baseplate焊接 层的可靠性。

2.3.2 温度循环/冲击试验 (被动) 
温度循环 (TC):从Baseplate底部缓慢加热整个封装,检 验具有不同热膨胀系数的材料之间连接的可靠性。热膨胀 系数如图9所示。
 

2.4 IGBT模块失效模式 
IGBT模块失效主要分为机械失效和电气失效,其中机 械失效包括绑定线、焊接层及封装/端子的老化所造成的使 用寿命终结,其主要是由功率循环产生结温变化引起。此 外,还包括过压、过流、其它因素 (如气候变化、化学腐 蚀) 所造成的失效,如图10所示。
 
IGBT失效同样适用可靠性“浴盆”曲线,在不同阶段 呈现不同表现形式,如图11所示。本文重点研究耗损失效中由于热机械应力导致的IGBT 失效,而这一部分正是IGBT耐久失效的主要原因。IGBT耗 损失效如图12所示。 
 
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