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  • [芯片制造] 先进封装—关键生态系统和可靠性考虑 日期:2023-09-03 10:37:07 点击:278 好评:0

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  • [芯片制造] 封装设计与分析(下) 日期:2023-09-03 10:13:45 点击:358 好评:0

    散热性能分析 电子设备在运行时会消耗电能并产生热量。这种热量会提高包括半导体产品在内元件的温度,从而损害电子设备的功能性、可靠性和安全性。因此,电子设备必须配备适当...

  • [相关技术] 晶圆级(CP测试)阶段进行EMVA1288参数检测解决方案 日期:2023-09-02 20:54:22 点击:730 好评:0

    编者荐语: 9月6日-8日,易捷测试将携手Enlitech参展2023中国光博会,欢迎到深圳宝安国际会展中心展位: 6馆 6E85-86与我们面对面了解更多光电传感器测试解决方案。 以下文章来源于光...

  • [芯片制造] BGA和CSP封装技术详解 日期:2023-09-01 20:59:41 点击:469 好评:0

    1. BGA和CSP封装技术详解...

  • [相关技术] 失效分析从何入手? 日期:2023-09-01 17:52:12 点击:229 好评:0

    失效分析从何入? 失效分析是为了查找失效原因,因为分析的某些步骤是破坏性的,不能重现,所以失效分析必须有计划有步骤地进行。为了防止在失效分析过程中把真正的失效因素或...

  • [芯片制造] 为什么芯片的良率提升难上加难? 日期:2023-09-01 17:37:43 点击:471 好评:2

    最近华为mate60搭载的麒麟9000s芯片,成为了业界关注的焦点,在芯片的国产替代上又更近一步。每一次芯片技术的革新,每一个更小的工艺节点,都为消费者带来了更高的性能体验。然...

  • [芯片制造] 半导体后端工艺:了解不同类型的半导体封装 日期:2023-08-31 18:48:26 点击:362 好评:0

    堆叠封装 (Stacked Packages) 想象一下,在一个由多栋低层楼房组成的住宅综合体内,若要容纳数千名居民,则需要占据非常大的面积才能满足需求。然而,一栋摩天大楼就能容纳同样数量...

  • [相关技术] 可测性设计(DFT)之可测试性评估详解 日期:2023-08-31 18:11:50 点击:480 好评:0

    副标题 副标题 副标题 副标题 副标题...

  • [相关技术] 电源之LDO——1.LDO基础知识 日期:2023-08-30 20:19:50 点击:423 好评:0

    1. 何为LDO? LDO是低压差线性稳压器的英文简称,是新一代的集成电路稳压器,它与三端稳压器最大的不同点在于,低压差线性稳压器(LDO)是一个自耗很低的微型片上系统。它可用于电...

  • [芯片制造] IC与器件的热设计 日期:2023-08-30 19:04:42 点击:270 好评:0

    主要内容包括: ①:什么是热设计 ②:什么是结温、热阻 ③:如何进行热设计 ----- 正文 ----- 一、 什么是热设计 我们在电路设计用到的芯片如LDO、独立器件如MOS管、甚至被动元件阻容...

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