2014年9月13日,在大家的期待中,我们的第四届IC测试研讨会如期举行,我们为大家准备了3个经典主题,分别如下: 主题一:《CP测试Trim Fuse原理及技巧》 演讲嘉宾:业界资深测试工程师---jerry 高 1. fuse的分类及特点 2. trim fuse的原理及技巧 3. CP trim的常见问题及解决办法 4. …… 详细资料:演讲PPT下载,演讲视频回播 主题二:《CP测试数据的分析和应用》 演讲嘉宾:SOC测试开发资深人士 James 关 1. CP测试结果的优缺点 2. CP测试数据的确认内容。 3. CP测试数据的分析手段。 4. CP数据分析案例 详细资料:演讲PPT下载,演讲视频回播 主题三:《Testing for NPI》 演讲嘉宾:业界资深产品经理---高琦 一颗全新的IC面世,将会经历各个阶段:before tape out,validation,qualification,characterization,production等等,在这些阶段里,我们测试工程 师需要怎么介入,怎么配合相关的工程师,又需要提前做哪些工作,才能保证产品的顺利产出…… 详细资料:演讲PPT下载,演讲视频回播 奖品设置: 阳光普照奖:高品质衬衫+中秋月饼 幸运奖10名:多功能运动手表一款 三等奖8名:蓝牙音箱一个 二等奖4名:小米盒子一个 一等奖2名:丹麦陨石高品质音响一个 特等奖1名:64G 小米平板一个 下次研讨会将于2015年3月或4月的一个周末举行,欢迎关注,期待您的光临~~ 我们的微信公众号,欢迎关注,可以更方便的看到我们发布的信息: |