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第五届IC测试研讨会详细内容

时间:2015-04-19 19:28来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:
        2015年4月18日,每年两次的IC测试研讨大会----第五届IC测试研讨会,在上海张江IC咖啡隆重举行,参会的160多人共同分享了,本次特别为大家准备的四个极具代表性的IC测试主题,详情如下:

主题一:《Device Cost Reduction》演讲嘉宾:业界资深产品经理---高琦
     
       在芯片功能日益复杂,性能日益提高的半导体飞速发展阶段,低成本的芯片将是目前价格为王的市场的永恒话题,那么今天我们就来探讨一下芯片各个环节的成本以及如何在保证质量的前提下合理cost down……
让我们来听听全球知名IC公司的资深产品人士的详细讲解,做IC的兄弟姐妹们绝对不容错过的一课!

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主题二:《测试数据分析常用方法及辅助工具》演讲嘉宾:业界IC测试技术大牛---Seaman zheng

1、数据分析报告常见内容。
2、多工位测试项具体分析。
3、测试分bin分析。
4、G&R&R 分析。
5、CP测试的Mapping 分析以及复测分析。
6、不同参数之间Correlation。
7、不同LOT之间数据对比。       相当丰富的数据分析实战内容,写到这小编我都忍不住了……

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主题三:《Memory Testing》演讲嘉宾:NEOSEM.INC/Tanisys资深工程师---杨施展

本主题将详细介绍主流的memory产品,memory 产品的主要测试参数、具体测试方法以及详细的测试流程……
    相信通过本次的交流,大家对memory的测试将会有更深入的了解……
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 主题三:《High Speed ADC Testing》  演讲嘉宾:Teradyne FAE Manager---Paddy Gu

主要内容:

1、Mixed-Signal Testing Overview
2、Test List / Key parameter
3、Limit The Analog Bandwidth
4、Flexibility of Terminations
5、Resolution VS ENOB
6、Clock Jitter effect on ENOB
7、Environmental Influences
8、Example of High Speed ADC
      在IC测试界,高速ADC测试的含金量大家都很清楚,我们有幸邀请到来自半导体测试巨头的资深工程师来现场讲解ADC的测试,以及其个人的经验分享,各位兄弟姐妹有不来的理由吗???


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除了这些精彩的演讲,本次研讨会还特别设置了众多给力奖品

阳光普照奖(报名参加者均有):高级时尚不锈钢保温杯一个

        

幸运奖16名:锂电无线鼠标一个


三等奖9名:高级羽毛球拍一对+羽毛球一桶+吸汗手胶一对



 

二等奖6名:智能手表一个

   

 
一等奖2名:亚都360度全能空气净化器一


特等奖1名:16G 小米Note一个

    


    下次研讨会将于2015年9月份左右的一个周末举行,欢迎关注,期待您的光临~~
我们的微信公众号,欢迎关注,可以更方便的看到我们发布的信息:



 
 
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