 本期介绍IC带电ESD测试方法，这个方法比较特殊，目前没有测试标准，是在IC业内使用的测试规范，早期出现在IEC62215-3的提案中，后面在发布版中被取消了。而且，很容易与IC不带电的ESD测试标准弄混淆。下面对整个测试方法进行简要介绍。ESD干扰源波形： IC不带电的ESD测试标准，所谓“不带电”是指测试的时候IC不供电，比如车规认证标准AEC-Q100中的3项ESD测试，采用的ESD干扰源波形模型参照的标准为ANSI/ESDA/JEDEC JS-001（HBM模型）、ANSI/ESDA/JEDEC JS-002（CDM模型）和EIA/JESD22-A115（MM模型）。  IC带电的ESD测试方法采用的ESD干扰源波形模型，测试时IC必须工作在正常工作状态，依据系统级测试标准IEC61000-4-2或车规标准ISO 10605，模型的等效电路、典型波形和参数见下图，这些参数也是市面上成熟的ESD枪或者ESD探头需要满足的技术指标。    ESD枪或探头： 目前做IC带电ESD测试，主要有两种ESD干扰源设备，一种是采用系统级ESD测试的ESD枪，另一种是由德国一家公司设计生产的ESD探头，更加适用于芯片测试。   ESD测试配置: 通用的测试布置主要包括ESD探头、接地铜盘夹具、监测设备和PC控制电脑。  测试流程:  以上是整个测试方法涵盖的内容，当然，实际测试过程中还有一些注意事项，这里就不再具体说明了，欢迎感兴趣的关注、私信交流讨论。 |
