o 详细讲解基于Scan测试的各个细节，Scan Chain的实现。
o Pattern压缩的原理与实现。
o 测试违反的初步分析与处理，测试覆盖率的预估
o OCC的原理与实现
o 相关工具：DFT Compiler，DFTAdvisor，TestKompress
Scan Chain ATPG的原理与实现
o Scan Chain违反的分析与处理
o ATPG的实现流程
o ATPG的低功耗考虑及动态IRDROP
o 分别讲述stuck-at、at-speed、 iddq等pattern的原理与产生
o 如何使测试覆盖率达到目标
o 相关工具：Tetramax，Fastscan，TestKompress
Memory BIST与Logic BIST的原理与实现
o 详细讲解Memory BIST的原理与实现
o 基于mbistarchitect的MBIST流程
o 基于Tessent Memory BIST的MBIST流程
o shadow logic的scan考虑
o share bus技术与实现
o 可修复技术的原理与实现
o 简要介绍Logic BIST原理与实现
boundary scan的原理与实现
o 详细讲解boundary scan的协议、原理
o 基于BSD Compiler的boundary scan实现
o 基于BSD Compiler的boundary scan pattern产生
测试模式下的timing以及flow考虑
o timing constraint基础
o 各测试模式下timing的特点与注意事项
o timing constraint的合并
o formal check的DFT考虑
o multi voltage设计的DFT考虑
测试pattern的仿真验延
o 仿真验证基础
o 工具使用，前仿、后仿
o memorybist的仿真验证
o scan pattern的仿真验证
o boundary scan pattern的仿真验证
机台测试与问题诊断
o ATE原理，load board准备。
o CP、FT与burn-in测试等
o 问题处理与Diagnosis流程
o DC测试、Shamoo测试、ESD测试与设计考虑
