欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408
注册
|
登录
|
高级搜索
|
网站地图
|
[
设为首页
] [
加入收藏
]
网站首页
测试工程
测试理论
测试实例
测试设备
相关技术
经验分享
测试研讨会
测试论坛
业界新闻
职业规划
拓展业务
关于我们
搜索
检索标题
智能模糊
搜索
热门标签:
TR6850
eeprom
ASL1000
IDDQ
LCD driver
ACCOTEST
Kalos
FA
csp测试
封装测试
当前位置:
网站主页
>
测试研讨会
>
[
测试相关新闻
]
第一届IC测试技术交流会-现场报道
日期:
2013-04-06 11:38:00
点击:
1007
好评:
5565
筹办月余的第一届IC测试技术交流会,今天终于圆满的落下了帷幕,来自五湖四海的40-50位IC测试工程师,尽情的享用了这次IC测试技术的盛宴,会中业界资深工程师分享了各种测试经验...
首页
上一页
1
2
3
4
末页
1
2
3
4
共
4
页
31
条
栏目列表
新手训练营
测试晋级区
经验分享
专题讨论
热文排行
第六届IC测试研讨会详细内容
第五届IC测试研讨会详细内容
第十届IC测试研讨会详细内容
第七届IC测试研讨会详细内容
第十二届IC测试研讨会现场报道
第四届IC测试研讨会详细内容
第三届IC测试研讨会详细内容
第九届IC测试研讨会详细内容
本类推荐
【研讨会】上海张江-第十四届IC测
【研讨会】热烈庆祝第十二届IC测试
【研讨会】热烈庆祝第十三届IC测试
第十五届IC测试研讨会火热开启~
主驱功率循环实验设计及判据分析
LogicBIST 学习
【二院工作】集成电路二院参加上
上海顶策芯片测试技术公益讲座圆