筹备半年的第二届IC测试研讨会，昨日在上海张江IC咖啡隆重举行，来自IC设计公司，晶圆测试，成品测试，ATE设备商，socket等测试耗材的一百多位测试工程师，尽情的享用了这次IC测试技术的盛宴，在本次盛会中，多位业界资深人士分享了各自的宝贵经验，心得，在极其开放，热闹的气氛中圆满的落下帷幕。让我们一起分享一下此次的盛况吧……

我们的爱心赞助商，依然不为名利的为广大工程师们，提供了丰富精美的奖品，赞一个！

会议详细介绍请下载查看：第二届IC测试研讨会

这次的签到树明显人多了很多吧，下次签到的时候，注意把手印按在树杈上哦……

我们的两位优秀美女志愿者，大家都很熟悉吧……

志愿者们正在忙碌着为大家准备礼品……

摄影师的眼神就是不一样啊……

热闹的签到场面……

研讨会前的自由交流，看起来大家互相都很熟啊……

会议于下午1:30正式开始了……发起人鹏程兄真诚的欢迎辞，引来掌声一片……他面前的奖品还是相当给力的……

交流会正式开始前，先来个幸运抽奖，这些幸运者，应该有你认识的吧，呵呵……感谢隽善科技陈卫杰陈总（左五）的爱心赞助，以及帮助我们抽取了幸运奖！

研讨会第一个专题开始：LDO测试开发详解，由TI工程师 jerry gao详细为大家讲解……大家听的都很投入……

中场休息，吃点好吃滴，喝点好喝滴……

吃喝完毕，又是激动人心的时刻：三等奖每人无线鼠标一个，正好缺这货，哈哈……同时感谢江阴佳泰科技季建松季总（右三）的爱心赞助及抽取。