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第二届IC测试研讨会盛况

时间:2013-09-15 12:40来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

   筹备半年的第二届IC测试研讨会,昨日在上海张江IC咖啡隆重举行,来自IC设计公司,晶圆测试,成品测试,ATE设备商,socket等测试耗材的一百多位测试工程师,尽情的享用了这次IC测试技术的盛宴,在本次盛会中,多位业界资深人士分享了各自的宝贵经验,心得,在极其开放,热闹的气氛中圆满的落下帷幕。让我们一起分享一下此次的盛况吧……

我们的爱心赞助商,依然不为名利的为广大工程师们,提供了丰富精美的奖品,赞一个!

会议详细介绍请下载查看:第二届IC测试研讨会

这次的签到树明显人多了很多吧,下次签到的时候,注意把手印按在树杈上哦……

我们的两位优秀美女志愿者,大家都很熟悉吧……

志愿者们正在忙碌着为大家准备礼品……

摄影师的眼神就是不一样啊……

热闹的签到场面……

研讨会前的自由交流,看起来大家互相都很熟啊……

会议于下午1:30正式开始了……发起人鹏程兄真诚的欢迎辞,引来掌声一片……他面前的奖品还是相当给力的……

交流会正式开始前,先来个幸运抽奖,这些幸运者,应该有你认识的吧,呵呵……感谢隽善科技陈卫杰陈总(左五)的爱心赞助,以及帮助我们抽取了幸运奖!

研讨会第一个专题开始:LDO测试开发详解,由TI工程师 jerry gao详细为大家讲解……大家听的都很投入……

中场休息,吃点好吃滴,喝点好喝滴……

 
 

吃喝完毕,又是激动人心的时刻:三等奖每人无线鼠标一个,正好缺这货,哈哈……同时感谢江阴佳泰科技季建松季总(右三)的爱心赞助及抽取。

 

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