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第二届IC测试研讨会详细内容

时间:2013-09-10 19:46来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

        2013年9月10日,在中秋圆月之前的这次研讨会,我们为大家准备了4个经典主题,分别如下:

主题一:《LDO开发注意事项》

演讲嘉宾:业界资深测试工程师---jerry 高

1. LDO常见测试参数介绍(O/S, IQ, ISHDN, IFB, IEN, VEN-hi,VEN-lo, VEN-hys, LDR, LNR, ICL, ISHORT, VREF, VOUT)
2. 其它测试参数(VPG-TH, VPG-HYS, VPG-LO, TST, PSRR)
3. 测试开发中对一些重点参数的注意事项
 i. 硬件设计技巧及注意事项
 ii. 程序开发技巧及注意事项
通过对LDO产品测试开发的介绍,让大家了解常见的模拟电路测试相关原理,并着重介绍一些测试开发中的注意事项,比如,如何选择合适的测试资源,如何最大限度的利用测试资源,常用的调试和验证方法等等,如何建立一些良好的测试开发习惯,等等

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主题二:《Highspeed Loadboard Design》

演讲嘉宾:贤宸电子 资深设计经理---孙志强

Part1 Mechanical Part
Part2 Electrical Part
Part3 PCB material
Part4 PCB manufacture

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主题三:《测试工程师需要具备的思想及需要掌握的相关技术》

演讲嘉宾:业界资深测试工程师---jerry 高

1. 测试工程师需要具备的思想
2. 测试开发涉及到的相关技术介绍
3. 测试硬件相关技术的重要性
4. 测试软件相关技术的重要性
5. 其它技术的作用
测试工程师的主要工作内容是什么?为什么要做测试?如何做好测试?
测试工程师的工作重点是什么?努力方向在哪里?
如何发挥和体现测试的重要性?如何持续不断地加强自身的测试能力?
测试开发在整个半导体研发中的地位和重要性在哪里?
在这里,我们愿意和一起分享和探讨。

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主题四:《测试工程师的职业发展规划》
 
演讲嘉宾:SOC测试开发资深人士 James 关

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奖品设置
 
阳光普照奖:端午粽子+中秋月饼

     
 
幸运奖10名:螺丝刀套装或USB音箱(二选一)
 

 
三等奖6名:无线鼠标

 
二等奖3名:温控烙铁套装+万用表+吸锡器
   

 
一等奖2名:充电宝路由器+万用表+USB音箱



 
特等奖1名:移动硬盘+万用表+温控烙铁套装



   


    各位看到如此丰富的研讨会内容,和激动人心的奖品,是不是后悔没来参加呢,没关系,我们的研讨会每年都会至少举办两次,相信下次更精彩,期待你的光临~~

 
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