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第六届IC测试研讨会详细内容

时间:2015-11-08 19:48来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:
        在广大测试工程师的期待中,我们第六届IC测试研讨会于2015年11月7日,在上海张江IC咖啡隆重举行,来自五湖四海的140多位工程师们共同分享这次技术大餐,干货如下:

主题一:《汽车电子的测试及质量控制》演讲嘉宾:TI资深测试工程师---Jonathan Ying
     
       众所周知,汽车电子的质量直接关系到生命的安全,那么汽车类芯片的测试该如何进行?质量如何把控?今天我们有幸邀请到TI资深测试工程师来给大家分享一下汽车电子的测试,相信来参加研讨会的你必有收获!
嘉宾简介:Jonathan 2002年毕业于上海交通大学,机械电子工程专业,随后攻读了复旦大学集成电路工程硕士,曾就职于Pericom,AATI,TI等公司,从事芯片测试开发,应用技术等工作。10多年的专注芯片测试及应用技术,使他精通于芯片测试的各个环节。


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主题二:《High Speed Digital Signal In Socket》演讲嘉宾:Twinsolution研发经理---施元军

      本主题我们特邀了Twinsolution的技术专家施元军来给大家分享在socket中的高速数字信号处理问题。
做测试的兄弟姐妹们都知道,芯片的测试离不开socket,而socket的选用将直接影响到测试的质量及效率,
特别是高速的数字或者模拟信号,那么如何选用一款合适的socket是个非常专业的问题,就让我们一起来聆听资深专家的独到见解
    相信通过本次的探讨,大家对socket的认知将会更加深入,工作中也更有帮助,一起期待吧……
嘉宾简介:施元军目前是上海韬盛电子科技股份有限公司的研发经理。他在半导体测试产业有超过15年的经验,并致力于测试连接器对信号和电源完整性影响研究多年,他还多次提交并获得专利。其中以高隔离度的测试插座的研发最具代表性。现在他主要专注于开发低接触电阻和长寿命的金属接触探针。


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主题三:《边界扫描测试技术详解》演讲嘉宾:Power Value资深专家—田雄伟

      SOC系列的IC测试里,总少不了边界扫描技术的应用,那么什么是边界扫描?为什么要用到边界扫描?边界扫描的原理又是什么?作为芯片测试工程师的你,这些问题你都清楚吗?别在犹豫,一起来参与我们的大讨论吧,听听测试专家深入浅出的讲解吧。
嘉宾简介:田雄伟毕业于天津大学,曾担任JTAG亚太区首席技术专家,现担任PowerValue公司资深专家.田先生在边界扫描及系统测试领域拥有十几年的经验,包括服务器,通信,交换机,汽车电子,医疗设备,航海设备等等,尤其在高速信号测试(DDR, SATA, PCI-E)和在线编程算法方面,有着深入的研究。此外,在测试系统开发和集成方面,他也有丰富的经验。

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除了这些精彩的演讲,本次研讨会还特别设置了众多给力奖品

阳光普照奖(报名参加者均有):迷你自拍神器,懒人手机支架,LED小夜灯

        
     
     

幸运奖16名:USB充电拖线板一个

    

三等奖8名:高级颈椎、腰椎多功能按摩器一个

    

 

二等奖4名:智能暖风机一台

         

 
一等奖2名:高清航拍无人机一架


特等奖1名:iPhone6S手机一部

    


    第七届IC测试研讨会预计将于2016年4月份左右举行,欢迎关注,期待您的光临~~
同时欢迎加入我们的千人QQ群及微信公众号,可以更及时方便的查看到相关信息:



 
 
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