时间: 2014年4月27日(星期日) 13:00-17:30 地点: 上海浦东新区张江高科技园区碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡(地铁2号线张江高科站) 在前两届IC测试研讨会成功举办后(第一届详情 第...
筹备半年的第二届IC测试研讨会,昨日在上海张江IC咖啡隆重举行,来自IC设计公司,晶圆测试,成品测试,ATE设备商,socket等测试耗材的一百多位测试工程师,尽情的享用了这次IC测试...
2013年9月10日,在中秋圆月之前的这次研讨会,我们为大家准备了4个经典主题,分别如下: 主题一:《LDO开发注意事项》 1. LDO常见测试参数介绍(O/S, IQ, ISHDN, IFB, IEN, VEN-hi, VEN-lo, VEN-h...
小电流的定义 IC测试机因为是高端测量,会受到内部开关,引线,pcb板等影响,所以最小电流量程一般为1UA左右;JUNO机等一些分立器件专用测试机,采用低端测量,加上特殊的布线等方...
2013年4月6日,筹备已久的首次IC测试研讨会在上海张江IC咖啡拉开序幕,这次研讨会,我们为大家精心准备了4个经典主题,分别如下: 主题一:《测试工程师自我介绍》 测试工程师向来...
筹办月余的第一届IC测试技术交流会,今天终于圆满的落下了帷幕,来自五湖四海的40-50位IC测试工程师,尽情的享用了这次IC测试技术的盛宴,会中业界资深工程师分享了各种测试经验...