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第三届IC测试研讨会盛况

时间:2014-04-28 07:38来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

   在众多测试工程师的期待下,我们的第三届IC测试研讨会,
于2014年4月27日下午2点,在上海张江IC咖啡隆重举行,
来自IC设计公司,晶圆测试,封装测试,ATE设备商,
socket,loadboard,probe card等测试业界的一百多位工程师,
尽情的享用了这次IC测试技术的盛宴,在本次盛会中,
多位业界资深人士分享了各自的宝贵经验,心得,在极其开放,
热闹的气氛中圆满的落下帷幕。让我们一起看看此次的盛况吧……

首先非常感谢我们的爱心赞助商,他们依然不为名不为利的为
广大工程师们,提供丰富精美的奖品,赞一个!

我们本次的签到卷轴不错吧,有点高大上的感觉哦……!

 

签到开始咯……

我们的优秀美女志愿者,感谢他们的热心帮助……

研讨会正式开始,美女主持Coco很给力,主持风格幽默,诙谐,气氛轻松活泼……

 

正式开始研讨前先抽个幸运奖热热身,感谢苏州联业和精密机械有限公司吴琴,德律泰科技的
华道全帮我们抽出了10名幸运奖,每人高大上钱包一只,祝大家的钱包都能鼓起来……

 

第一个研讨主题:测试数据分析及验证相关,由TI资深工程师jerry gao热情分享,内容丰富而实在,
对工程师的帮助很大……

 

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