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IC芯片可靠性测试

时间:2023-01-11 15:07来源:芯片半导体实验室  作者:ictest8_adit 点击:

 

可靠性测试基本概念
质量:一组固有特性满足要求的程度质量是对满足程度的描述,满足要求的程度的高低反映为质量的好坏,在比较质量的优劣时,应注意在同一等级上进行比较可靠性:产品在规定条件下和规定时间内,完成规定功能的能力可靠性的概率度量称可靠度(即完成规定功能的概率)产品或产品的一部分不能或将不能完成规定功能(Spec)的事件或状态称故障,对电子元器件来说亦称失效。2.算量舆可靠性的相性宵量提高>器件一致性好>可靠性更均匀雪量缺陷的解决>该缺陷引起的可靠性失效也雪解决

  
 
 
 
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