 芯片老化测试对于芯片测试至关重要 ，但是需要 注意些什么关键点，这次的文章内容 ，我们就来聊聊 。依据以往的经验 ，谷易电子为您总结出困扰 DFT技术工程师的问题 ,可根据这些经验来思考并丰富您的芯片老化测试方案。1、一.我们还要多少时间才能通过老化测试减少夭折率？BI(Burn-in) / ELFR(Early Life Failure Rate)：评估早夭阶段的故障率或藉由BI手法降低出货的早夭率 -DPPM(Defect Parts Per-Million)。 老化要注意的关键点：测试环境（环境湿度，环境温度，压力等），测试用时，测试载荷，动态性静态测试，另外还包含(但不限于)：测试维持时间、样本数量、测试目的性、要求的置信度、需求的精密度、成本、加速因子、场外环境、测试环境、加速因子计算、威布尔分布斜率或β参数(β<1表示早期故障，β>1表示耗损故障)。 a.测试环境：环境温度层面，通常环境温度，70℃，125℃，155℃，175℃甚至更高，依据不同级别的测试标准来安排；环境湿度层面，80/85%的空气相对湿度，其他的环境湿度规定依据测试标准来确定； b.测试用时，一般分为24H，168H，1000H等  2、老化测试可以节省多少成本？ 老化测试设备的钱用在哪里？ a.测试系统; b.老化炉/高温试验箱; c.老化板； d.老化测试座; f.人工等； 上述5点上，具体花费短期内来看较为大的测试系统和老化炉和高温试验箱，这些一般是搭配销售的，通常情况下生产销售高温试验箱老化炉的公司都会有这方面的整体实力制作与机器设备配合的测试系统，协助顾客更好的开展老化测试工作  上图为我公司老化座产品 3、应该在什么样环境条件下进行老化？ 通常情况下，贴合实际使用的测试是比较符合要求的，但是由于必须在短时间内解决测试标准，所以需要测试标准和环境条件超级加倍； 举个例子，测试情况下的温度，必须高温高湿度和蒸煮等等。  4、是否应该在系统、分系统或部件等级实现老化？ 最理想的情况就是系统软件等级的老化，但是这种老化的情况下，对测试设备有很高的要求，毕竟全套的系统软件成本很高。分系统的情况下，专门针对某些特殊的功能，这样一来，成本费会比较适度。部件级别的测试会较为简单，测试成本费也更低，但部件测试更加单一。  5、谁应当承担供货商、购买方或第三方老化？ 这种看需求量，一般来讲大公司芯片测试比较完善的，因此一般来讲是不需要重测。不过一般的测试都是由买方和卖方做的，最后基本都是认为终端客服为标准。 6、老化后的平均预期寿命是多少？它和没有老化的平均预期寿命有何不同？ 老化后的平均预期寿命也会是有对应的标值的，通常情况下，125℃，测试1000个小时，平均预期寿命可以到3~5年；2000个小时，可使用到7~10年；150℃，测试1000个小时，平均预期寿命7~10年；测试2000个小时，可使用到20年左右；经过老化测试之后的平均预期寿命，平均预期寿命更有依据。 7、老化是不是始终必要且经济的？ 先前也做了老化成本费用的分析，经济不经济和必要不必要需要看芯片的具体情况。比如车规芯片，涉及到安全驾驶，其测试更加严格，使用寿命更久，要求的测试环境更为严苛。 8、老化有副作用吗？ 老化主要是用来解决早夭芯片的，通常情况下，老化测试不会产生不良反应，根本原因是老化测试是用来解决问题的。 9、行业将如何从老化数据中受益？ 芯片行业的老化数据会对行业的发展产生非常积极的影响，会不断的推动这个行业朝着好的方向发展。 |
