IC测试术语
时间:2025-01-09 21:02来源:漫谈大千世界 作者:ictest8_edit 点击:
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在集成电路（IC）测试领域，有许多专业术语用于描述测试过程中的各种概念和步骤。以下是一些常见的IC测试术语。
1. 热切换（Hot Switching）
· 定义：热切换是指在电路中继电器（relay）或开关在有电流流过的情况下进行断开或闭合的操作。
· 影响：这种操作会在继电器的触点间产生电弧，因为闭合前继电器两端的电位不等。电弧会产生热量，长期进行热切换会减少继电器的使用寿命，甚至可能直接损坏继电器。
· 避免方法：设计电路时应尽量避免热切换。可以通过使用适当的驱动电路来控制继电器的开关速度，或者在继电器两端并联续流二极管来减少电弧的产生。
2. 闩锁效应（Latch-up）
· 定义：热切换是指在电路中继电器（relay）或开关在有电流流过的情况下进行断开或闭合的操作。
· 影响：这种操作会在继电器的触点间产生电弧，因为闭合前继电器两端的电位不等。电弧会产生热量，长期进行热切换会减少继电器的使用寿命，甚至可能直接损坏继电器。
· 避免方法：设计电路时应尽量避免热切换。可以通过使用适当的驱动电路来控制继电器的开关速度，或者在继电器两端并联续流二极管来减少电弧的产生。
3. Binning
· Hard Binning：这种方式涉及到物理硬件实体，如机械手，它们会根据测试结果将芯片放置到特定的位置，这些位置可能是用于存放芯片的包装管或托盘。Hard binning的数目受到外部自动设备的限制，这意味着能够进行hard binning的类别数量可能有限。
· Soft Binning：这种方式通过软件计数器来记录良品的种类和不良品的类型，便于在测试过程中确定芯片的失效类别。Soft binning的数目原则上没有限制，因为它主要依赖于软件记录，而不是物理空间。
测试程序必须通过硬件接口提供必要的Binning信息给handler，当handler接收到一个器件的测试结果，它会去判读其Binning的信息，根据信息将器件放置到相应位置的托盘或管带中。
4. Output Mask（输出屏蔽）
· 这是一种在功能测试期间控制测试通道输出比较功能的方法，可以单独对每个引脚（pin）在不同的测试周期中进行设置，以打开或关闭输出比较。
5. Strobing
· 在功能测试中，DUT（Device Under Test，被测试设备）的输出信号在特定周期的某个时间点被评估。这个过程涉及到将DUT的输出电压与预先设定的逻辑1（VOH）和逻辑0（VOL）进行比较，以判断测试是否通过（pass）或失败（fail）。Strobing也被称为Output Sampling。
· 在IC测试中，"Strobing"是一种技术，它涉及到在特定时间点对电路的输出进行采样，以确保在测试过程中捕获到准确的数据。这种方法特别适用于处理异步电路或在时钟边沿附近变化的信号。通过在特定的时间点“冻结”电路的状态，Strobing允许测试系统评估电路的输出，而不受动态变化的影响。
· Strobing技术可以应用于多种场景，例如在模拟或数字电路测试中，用于同步数据采集，或者在验证电路设计时，用于观察特定时间点的信号状态。此外，Strobing还可以用于减少测试数据的量，通过仅保存特定时间点的数据，而不是整个测试周期的数据，从而提高测试效率。
· 在实际应用中，Strobing可以通过硬件或软件实现。硬件实现可能涉及到使用特定的触发信号来同步数据采集设备，而软件实现则可能涉及到在测试程序中设置特定的时间点来捕获和分析数据。无论哪种实现方式，Strobing都是确保测试准确性和效率的重要工具。
6. Test Pattern（测试向量）
· 测试向量是描述器件逻辑功能输入输出状态的一系列模式。在功能测试中，测试系统将输入数据提供给DUT，并将DUT的输出数据与预期的输出进行比较。如果DUT的实际输出与预期输出不匹配，就会记录为一个失败（failure）。测试向量也被称为“Test Vectors”或“Truth Tables”。其中，“Test Vectors”更强调时序性，指的是逻辑电平的一系列0、1序列或其他特征。
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