说起测试，最基本的就是电压和电流的测试，对于比较理想的条件下，电压和电流的测试是比较容易的，借助测试V/I源，我们可以很方便的对电压和电流进行测试。

然而，在实际的测试应用中，外围条件存在很多局限性，接触电阻、寄生电容和寄生电感无处不在，这些因素都会对测试造成影响。在这里，我就举一个例子，让大家了解一下电容与电感对电流测试的影响。

做过测试的人都知道，当我们要测试电流的时候，如果在测试端加了电容，特别是较大的电容后，电流测试就变得不稳定，有可能测试值偏大，也有可能需要等到更长的时间才可能测试到稳定的电流值，这里面还不包含电容本身的漏电。

在这里，我们一起做一个仿真实验。

假设我们需要测试某个电阻的大小，我们采用加压测流的方式进行测试。我们假设这个电阻R1的大小为100K左右，我们施加在电阻两端的电压 V1=5V，通过测试通过R1（100K）的电流，我们就可以计算出对应的电阻来。如果是在比较理想的条件下，我们可以很容易就测试到50uA左右的电 流，然后通过计算得到100K的电阻。

然而，在实际的测试应用中，由于接触电阻、电感和电流的存在，都会对测试造成影响。

因为在实际测试中可以采用开尔文的方式进行测试，是可以消除接触电阻的影响的，所以，在这里，只考虑电容和电感的影响。

请大家看以下的仿真电路（采用了LTspice IV免费仿真软件，点击这里下载），我们需要测试通过R1的电流，而这个电流实际上是测试源V1本身测量到的。在实际条件下，测试源和需要测试的电阻之间，不可避免的存在寄生电感和寄生电容，我们分别定义为L1和C1。

我们可以预设一下L1=10nH，C1=10nF，我们假设V1从0V上升到5V的rising time为1mS。

跑一下仿真，我们检测一下通过V1的电流（测试源测试到的电流），得到的仿真结果如下：

我们可以发现，电流的峰值达到了100uA左右（不考虑电流方向），而稳定后的电流值应该是50uA左右。为什么会有这个100uA的电流产生呢？这个，就是电容的影响。

根据电容的计算公式，我们可以得到i=C*dV/dt，根据已知条件，我们可以知道C=10nF，dV=5V, dt=1mS，通过计算，我们就可以得到i=100uA！如果电容C1计算增大到1uF呢，我们可以计算得到i=10mA！当然，实际的V1的 rising time会小一些，这个峰值电流也会小一些。但是，由于电容C1的存在，瞬间的峰值电流仍然可能很大！

特别是我们需要测试一些小电流的时候，我们往往需要使用较小的电流量程档来提高测量精度，但是，由于这个峰值电流的影响，有可能会使得测试源进入电流满量程或者电流钳位保护，无法进行测试；如果我们提高电流量程档，却又会对电流测量精度造成影响！

继续观察仿真图，我们还可以发现，电流在V1上升的瞬间就开始振荡，V1稳定以后（需要1mS时间），仍然在振荡，经过大约100uS以后才逐渐稳定下来。由于电流在振荡，我们必须等待足够的时间，待电流稳定以后再进行测试，否则，就可能造成电流测试的不稳定。

这是什么原因引起的呢，这是电感的影响！其实这就是一个LRC电路。L对振荡时间的影响是最大的。如果我们保持其它条件不变，取L1=100nH，振荡时间达到了2mS！而如果取L1=1nH, 振荡时间只有10uS左右了。

通过以上的仿真实验，我们了解了实际测试中电容和电感的影响，这就要求我们，设计合理的测试线路，减少外围器件的影响，同时也要尽量优化硬件设计，尽可能减少寄生电感和电容的影响。
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