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芯片测试中,什么是hard fail呢?

时间:2025-06-16 20:41来源: 学芯屋 作者:ictest8_edit 点击:

 

在芯片测试中,Hard Fail(硬性失效) 是最直接、最致命的失效类型。它通常意味着芯片某部分已经发生了不可恢复的物理性损坏或逻辑性错误,即使改变测试条件、重复测试,永远无法通过该项测试。
 

✅ 一、什么是 Hard Fail?

Hard Fail 是指:

芯片在测试中某项功能或参数彻底失效,表现为持续、稳定、完全无法通过,且根本原因通常是物理结构或电路逻辑已经永久损坏。

它是芯片测试中最严重、最明确的失效类型,常用于快速判定不良品。
 
 

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