 IC使用寿命测试项目（Life test items）：EFR, OLT (HTOL),LTOL① EFR:早期失效等级测试（Early fail Rate Test） 目的: 评估工艺的稳定性，加速缺陷失效率，去除由于天生原因失效的产品。 测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试 失效机制：材料或工艺的缺陷，包括诸如氧化层缺陷，金属刻镀，离子玷污等由于生产造成 的失效。 具体的测试条件和估算结果可参考以下标准： JESD22-A108-A EIAJED- 4701-D101 ② HTOL/ LTOL：高/低温操作生命期试验（High/ Low Temperature Operating Life） 目的: 评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力 测试条件: 125℃，1.1VCC, 动态测试 失效机制：电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等 参考标准： 125℃条件下 1000 小时测试通过 IC 可以保证持续使用 4 年，2000 小时测试持续使用 8 年；150℃ 1000 小时测试通过保证使用 8 年，2000 小时保证使用 28 年。 具体的测试条件和估算结果可参考以下标准 MIT-STD-883E Method 1005.8 JESD22-A108-A EIAJED- 4701-D101 |
