【研讨会】热烈庆祝第十五届IC测试研讨会顺利举_专业集成电路测试网-芯片测试技术-ic test

2025年3月1日下午1点半，我们的第十五届IC测试研讨会在上海浦东新区秋月路26号矽岸国际6号楼3楼如期举行，自2013年以来，已经成功举办十四届，场场爆满。阳光明媚、微风不燥，这种好天气最是适合聚会了。一百多位IC测试工程师放下手头的工作，从杭州、南京、无锡...等地赶来跟老朋友相聚交流技术和职场心得，听演讲嘉宾分享技术热点，享用主办方准备的餐点，还有最新潮最有情怀的大奖小奖，真的是一场盛况空前，群情振奋的芯片测试盛会。

小编全程参与了此次盛会，被现场气氛渲染得慷慨激昂的时候，也甚为因故缺席的朋友们感到惋惜，特地准备了会议的第一手资料分享给大家过过眼瘾，不过下次可千万别错过咯。

有序排队签到、领取抽奖券的小伙伴们：

会议时间还有半小时，坐席已经满员，主持人金金组织起了暖场活动。同时隆重介绍了主办方、协办方公司情况。

开场由主办方– 上海顶策科技股份有限公司 总经理 孙鹏程先生给大家致欢迎辞，简单介绍了芯片测试研讨会的悠久历史，以及快乐分享，共同提高的会议宗旨。

接下来就是技术分享时间了，首先是高琦老师分享的《芯片研发中的safe launch流程对测试的要求》

高琦：20年半导体技术从业经验，分别在SMIC，LSI，Conexant，TI担任过产品工程师，产品工程经理。负责新研发产品的量产认证, 汽车级产品的可靠性认证，新封装的开发、验证和量产，量产产品的良率维护，量产产品的成本消减，数据分析工具的开发等工作。

精彩的演讲之后，还有提问互动环节，提问互动的还得到了户外超亮远射多功能照明灯一个。

接下来是令人兴奋的三等奖抽奖环节，分别由上海佳宽电子科技有限公司总经理宋忠涛先生，和悦芯科技股份有限公司销售经理孙继彪先生抽取了8位幸运观众，分别获得了飞利浦骨传导蓝牙耳机一个，之后合影留念。