 OS（Open-Short）测试是芯片测试的第一个环节，又称之为ContinuityTest 或 Contact Test。用来确认所有的信号管脚是否有open&short的情况，如果出现open&short，接下来的测试也是没有意义的，因此OS测试一般都是作为第一个测试项。为了防止静电“打死”芯片，芯片管脚都会有保护二极管，正是利用二极管的特性可以对其测试。二极管的什么特性呢，正向导通电压一般在0.65V左右（对于硅来说），反向截止。因此利用这一特性可驱动100uA电流去测量其电压值，即可判断是否存在open-short情况。  具体实现的步骤为： 1：所有电源pin给0V 2：使用PMU给100uA电流到待测管脚，串型测试，一次一个管脚 （鉴于目前测试机台大多是PPMU结构，因此做法是所有PPMU同时给100uA电流到所有待测管脚，这样做的好处是速度快，但也会存在一个问题，后面再说） 3：量测待测管脚的电压值 4：如果测量值大于0.9V，则为open（high limit根据客户的spec，也有1.5V是limit值，一般默认0.9V） 5：如果测量值小于0.2V，则判定为short 上面测试的是对电源端的二极管，还有对地端的二极管也要测试，原理是相同的，只不过给的电流是-100uA(正负对于测试机来说只是方向)  具体实现的步骤为： 1：所有电源pin给0V 2：使用PMU给-100uA电流到待测管脚，串型测试，一次一个管脚 （鉴于目前测试机台大多是PPMU结构，因此做法是所有PPMU同时给-100uA电流到所有待测管脚） 3：量测待测管脚的电压值 4：如果测量值小于-0.9V，则为open（low limit根据客户的spec，也有-1.5V是limit值，一般默认-0.9V） 5：如果测量值大于-0.2V，则判定为short 前面说了目前市面上大多说测试机都是PPMU(Per PMU)结构，一般都是同时并行去测量所有的IO 管脚，那么这样测试就会带来一个问题。如果有pin与pin之间short，那么并行测试就不能测试出来（可以思考下为什么）。为了防止pin与pin之间的short发生，因此还需要增加一个OS_FUNC测试项，在说function测试之前，有几个概念需要了解。一是timing，二是level，三是pattern。 Timing是由Waveform，edge，period组成，是定义了信号管脚pin输入输出的时间关系。 level是电平的概念，其中VIH是指施加在管脚高平的值，VIL是指施加在管家上低电平的值。VOH是指输出管脚为高的最低电平值，VOL是指输出管脚为低的最高电平值，IOL是指输出管脚为低时的驱动电流，IOH是指输出管脚为高时的负载电流，VT是指参考电压。 Pattern就是向量表，里面定义了各个管脚在N个周期里面的状态，输入高一般用1表示，输入低用0表示，输出为高用H表示，输出低用L表示，中间态用Z表示，X表示不用管。 了解了这些含义之后，还需要了解PE card中的动态负载单元，如下图所示。  当VT>DUT 端电压，此时驱动IOL电流（正电流） 当VT<DUT端电压，此时驱动IOH电流（负电流） 当VT=DUT端电压，动态平衡 此时我们需要设置一个VT电压，一般设置为3V，IOL电流设置为300uA,还需要写一个pattern。这时候pattern里面需要将所有的IO pin写入，格式大致如图。  这时候需要注意，一行为一个周期，我们要保证一行只有一根pin写Z，从而实现串行的效果。其中Z代表中间态，即VOL<Z<VOH，因此需要把VOL设定为0.2V，VOH设定为0.9V。timing的话Waveform使用NRZ即可，period一般不要太快，1MHZ左右，比较点在900*ns左右。OS_FUNC原理就是这些，原理上是用function方式实现串行效果，如果有pin与pin short，则pattern就会fail（当然如果有pin open也是会fail的），有个问题是可以完全用OS_FUNC代替OS DC测试方法么，一般不这么做。虽然OS_FUNC测试速度快，Open&short也能测试出来，但datalog显示只会是fail，无法判断open还是short，找出fail pin也会比DC测试方法麻烦一些。 那么IO pin测试完之后，还有一些pin是没有测试的。我们知道数字测试部分，一般会有IO pin，电源pin，GND pin。IO pin测完之后，还有电源pin没有测试，一般测试电源pin我们只测试short，称之为power short，比较简单，后续再讲。 |
