 爱德万测试（英语：Advantest Corporation，全称：株式会社爱德万测试），日本的上市公司，成立于1954年7月1日，当时称为武田理研工业株式会社，1985年才改为现今的名称[1]。爱德万测试贩售半导体产业的自动测试设备（ATE），也制造设计、制造或是维护电子系统（像是光纤、无线通讯设备以及消费性电子）时需要的量测设备。爱德万测试也生产内存、单片系统及射频通讯的测试系统。 主要产品  SoC Test SystemsSoC（片上系统）器件将多种不同功能集成到单个芯片中。我们的 SoC 测试系统可以通过灵活配置测试系统中使用的卡/模块来测试 SoC 器件中的所有集成电路，包括逻辑、模拟、RF、DC 和成像器。  Power Device Test Systems功率半导体是控制电力的装置，用于汽车和各种电气产品。我们的功率半导体测试系统由 Advantest Group 旗下公司 CREA 开发和提供，专门用于测试处理高电压和大电流的功率半导体，并为此配备了特殊的安全功能。 Memory Test Systems记录和保留数据的 IC 称为存储设备。我们的内存测试系统针对内存半导体的批量生产进行了优化，在这个市场中，低混合大批量生产是常态，并且具有业界最佳的并行性（能够同时测试大量半导体）。       Test Handler测试处理机是实现半导体器件最终测试自动化的设备。它负责器件的运输、半导体测试过程中的温度控制以及根据测试结果对器件进行分类。     Metrology Scanning Electron MicroscopeCD-SEM 工具可测量半导体光掩模和晶圆上的布线图案的宽度、高度、侧壁角度等。  Defect Review Scanning Electron Microscope 缺陷审查 SEM 工具对光掩模上的微小缺陷进行详细审查。  招聘情况    |
