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芯片测试简介

时间:2024-01-10 13:33来源:半导体杂谈 2 作者:ictest8_edit 点击:


芯片这一词想必大家并不陌生,生活中芯片的应用随处可见,数码产品,医疗设备,家用电器,汽车电子等能看到它的影子。从功能上来说有CPU,GPU,MCU,FPGA等计算芯片。 DRAM,NAND,FLASH,ROM等数据储存类芯片。Wifi,蓝牙等通信类芯片。这些芯片从功能上来说虽然千差万别,但在出货前一些环节必不可少,其中之一就是测试。那测试目的是什么呢,就是找出制造过程中存在缺陷的芯片(测试的结果反馈给设计也有助于完善芯片设计),确保交付给客户手中的产品是合格品。

 
 
生产测试又分为晶圆测试(CP Test)和FT 测试(Final Test),一些常用词介绍如下:
  PMU:Precision measurement Unit
  DPS:Device power supply
  RVS:Reference voltage supply
  TG:Timing generator
  LM:Local memory
  PE:Pin electronics 
  L/B:loadboard
  DUT:Device Under Test
测试程序通常分为几个部分,如 DC 测试、功能测试、AC 测试等。DC 测试验证电压及
电流参数;功能测试验证芯片内部一系列逻辑功能操作的正确性;AC 测试用以保证芯片能特定的时间内完成逻辑操作。
 
 
还有几方面要了解。一是测试机,称为ATE(自动测试设备),目前市面上常见的测试机有93K,J750,Chroma,UltraFlex等。测试机是由电子电路和机械硬件组成,是由同一个主控制器指挥下的电源、计量仪器、信号发生器、向量(pattern)生成器和其他硬件项目的集合体。测试工程师根据客户提供的testplan在对应的测试平台完成测试程序的开发,如下图是测试机的PE Card功能单元图,这个是测试工程师必须掌握的部分。二是测试治具,在CP阶段有probe card(针卡)。FT有loadBoard(负载板),Socket(插座),ChangeKit。有了测试平台,测试方案,以及测试治具,测试工程师可根据要求完成测试程序的开发,开发完成验证无误后即可交付产线进行生产。
 
 
 
 
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