 可测试性设计（Design for Testability，DFT）是指在产品的设计阶段将测试方法构建到产品中，以便在后续的测试过程中轻松经济地测试各种产品属性和功能。传统的测试方法往往在设计和制造确定之后才实施，这会导致测试成本高昂，特别是在需要测试大批量产品时。 可测试性设计的目标是在组装线或包装阶段最大限度地减少对产品的干预，并能够及早检测到任何关键的缺陷或问题。以下是一些可测试性设计的关键思想和方法： 设计模块化：DFT鼓励使用模块化设计，即将产品划分为较小的模块或组件。这样可以更容易地测试每个模块的功能和性能，并独立地识别和解决问题。 添加测试点：在产品设计阶段，设计师应该考虑在关键位置添加测试点，以便在测试时能够轻松访问产品的内部电路和信号。这样可以方便测试人员进行必要的测量和检查。 确定故障模式：在设计阶段，要对可能出现的故障模式进行分析和预测，并相应地设计测试方法和策略。这样可以更好地确认和排除潜在的故障。 引入自动化测试：DFT鼓励使用自动化测试工具和设备，以提高测试的效率和准确性。自动化测试可以通过减少人为错误和快速执行测试来降低测试成本。 通过将测试方法纳入产品设计中，可测试性设计可以在产品的早期阶段就能够识别和解决问题，从而减少测试成本和时间。此外，可测试性设计还可以提高产品的质量和可靠性，减少故障率，提高用户满意度。 |
