[芯片制造] 【芯片验证】Multi-Die系统验证很难吗？ 日期：2023-12-13 20:36:03 点击：356 好评：0
新思科技 . 新思科技（Synopsys, Inc.）是全球排名第一的EDA（芯片设计自动化）和IP公司，同时也是信息安全和软件质量的全球领导者。新思科技以芯片产业的根技术推动AI、5G、高性能计...
[芯片制造] 浅谈ESD防护—ESD失效案例分享（一） 日期：2023-12-13 19:19:00 点击：1219 好评：8
一. Design Window 设计不合理。 Design Window是ESD设计的核心概念之一，关于Design Window之前一期已经叙述过了，这里列举几个Design Window不当造成的ESD失效案例。 浅谈ESD防护Design Window的确立...
[芯片制造] 【芯片调试】OpenOCD是什么？ 日期：2023-12-11 22:35:45 点击：736 好评：0
前言 最近在调试一些单板，对于这个调试工具我真的是又爱又恨，熟悉了那就是金箍棒，不熟悉那就是拦路虎。 有的东西用了很久还不知道这个玩意是干嘛的，于是这里来整理一篇来...
[芯片制造] 【芯片量产】芯片量产导入知识概览 日期：2023-12-11 19:09:00 点击：1012 好评：2
perface Hi! 最近整理了关于 芯片量产工程师 需要掌握的知识概览。 因为涉及的知识面较广，很多知识点没有详细展开， 但是都附注了相关超链接。 如果想深入了解也可自行查询相关资...
[芯片制造] 四大芯片互连技术简介 日期：2023-12-08 21:41:00 点击：326 好评：0
英特尔联合创始人戈登摩尔曾预言，芯片上的晶体管数量每隔一到两年就会增加一倍。由于图案微型化技术的发展，这一预测被称为摩尔定律，直到最近才得以实现。然而，摩尔定律可...
[芯片制造] 芯片的几个重要测试-CP、FT、WAT 日期：2023-12-08 20:32:00 点击：3030 好评：18
半导体生产流程由晶圆制造，晶圆测试，芯片封装和封装后测试组成。而测试环节主要集中在CP（chip probing）、FT（Final Test）和WAT（Wafer Acceptance Test）三个环节。 CP测试 ，英文全称Cir...
[相关技术] 从仿真到测量——信号完整性 日期：2023-12-08 19:18:00 点击：273 好评：0
信号完整性 . 本公众号由蒋修国于2014年创办 1、分享信号/电源完整性（SI/PI）、电磁兼容性等方面的知识/行业信息 2、不定期举办各类公益活动 3、帮助工程师学习高速电路、RF、EMC和...
[相关技术] 新能源汽车电控系统详解 日期：2023-12-07 21:50:41 点击：411 好评：0
关于汽车电控系统，它其实并不是新能源电动汽车专有的，燃油车同样具备，只不过新能源电动汽车的电控系统更加的复杂，也更强大。 汽车电控系统，就是汽车电子控制系统，是由模...
[相关技术] 先进封装技术在三维闪存产品中的应用探讨（上 日期：2023-12-07 19:42:00 点击：291 好评：0
近年来，随着人工智能、物联网和 5G 等技术的蓬勃发展和应用，市场对数据处理以及存储的需求逐渐增大。根据 IDC 预测，全球数据圈每年被创建、采集或复制的数据量，由 2018 年的...
[相关技术] 详解频谱分析仪的工作原理！ 日期：2023-12-06 21:31:00 点击：438 好评：0
频谱分析仪是无线通信系统的研发、测试和维护中常用的测试测量仪器，它不仅可以进行频域测量，还可以进行时域测量，甚至还可以进行矢量信号分析。如果你从事的是无线通信相关...
