在众多测试工程师的期待下,我们的第三届IC测试研讨会,于2024年4月27日下午2点,在上海张江IC咖啡隆重举行,来自IC设计公司,晶圆测试,封装测试,ATE设备商,socket,loadboard,prob...
IC测试QQ群经典讨论之测试良品的标准 Dragon 11:34:46 求助: 有没有这个标准,说出货的良品里面不良品的百分比是多少算合格? 万分之一? Richard 11:35:38 不是有AQL吗 按GB2828 Dragon 11:35:5...
2013年9月10日,在中秋圆月之前的这次研讨会,我们为大家准备了4个经典主题,分别如下: 主题一:《LDO开发注意事项》 1. LDO常见测试参数介绍(O/S, IQ, ISHDN, IFB, IEN, VEN-hi, VEN-lo, VEN-h...
2013年4月6日,筹备已久的首次IC测试研讨会在上海张江IC咖啡拉开序幕,这次研讨会,我们为大家精心准备了4个经典主题,分别如下: 主题一:《测试工程师自我介绍》 测试工程师向来...
筹办月余的第一届IC测试技术交流会,今天终于圆满的落下了帷幕,来自五湖四海的40-50位IC测试工程师,尽情的享用了这次IC测试技术的盛宴,会中业界资深工程师分享了各种测试经验...