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半导体基础知识与晶体管工艺原理之一(5)

时间:2010-08-14 08:55来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

  • 晶体管的三种基本应用电路

1)共基极电路(图13a)2)共发射极电路(图13b)

3)共集电极电路(图13c)

图13a 共基极电路图13b 共发射极电路

图13C 共集电极电路 

  • 晶体管正常工作的必要条件——

●发射结正向偏置(输入阻抗Ri小、有注入),

集电结反向偏置(输出阻抗Ro大、能收集电子)。

● 基区宽度很小。

● 发射区浓度比基区浓度高得多。

  • 晶体管内部载流子的输运过程

以NPN晶体管,共发射极电路工作为例,加以说明。(见图14)

●发射区:在正向偏压下,大量的电子向基区注入(Ine)——进入基区后,小部分与基区空穴复合(Ir)——大部分扩散运动到达集电结,在反向电压的吸引下,被收集到集电区(Inc)。

●基区:在正向偏压下,一部分空穴向发射区注入(Ipe),一部分空穴与注入基区的电子复合(Ir),另外,有少量的少数载流子——电子在反向偏压作用下漂移运动进入集电区(-ICBO)。

●集电区:在反向偏压作用下,把到达集电结的电子收集到集电区(Inc);同时,有少量的少数载流子——空穴漂移运动进入基区(ICBO)。

 

这样,形成了:

IE = IB+ IC

IB = Ipe + Ir -ICBO

IC = Inc + ICBO =(Ine – Ir)+ ICBO

IE = Ine + Ipe

请注意:

1)由于晶体管的发射区浓度比基区浓度高得多,因此,Ine 》Ipe。

2)由于晶体管的基区宽度很小,远小于电子的扩散长度,因此,复合电流很小,Ir《 Inc。

3)晶体管集电极的反向漏电流ICBO是很小的。

4)综合以上三点,就可以得到:

●IC<IE,但非常接近于IE

●IB《 IC

●当输入回路产生较小的电流变化△IB时,就会引起输出回路较大的电流变化△IC。

图14晶体管内部载流子的输运过程

4 晶体管的放大作用

1)共发射极电路——有电流放大、电压放大和功率放大作用。

hFE=IC/IB , GV=RL/Ri,GP=RL/Ri( 三个均为远大于1的数 )。

2)共基极电路——有电压放大和功率放大作用,没有电流放大作用。

α= IC / IE<1,但仍有GV=RL/Ri ,GP=RL/Ri 。

3)NPN晶体管共发射极电路放大原理图(图15)

图15NPN晶体管共发射极电路放大原理图

4)共发射极电流放大系数

交流放大系数β= △IC / △IB

直流放大系数hFE = IC / IB

5) 如何提高晶体管的电流放大系数

要提高电流放大系数,必须:

● 提高发射效率——即要提高注入到基区的电子电流(Ine)在总的发射极电流(IE)中的比例(也就是要减少从基区向发射区注入的空穴电流Ipe)——必须提高发射区杂质浓度与基区杂质浓度之比。(工艺中要调节好基区和发射区的浓度)

●减少电子在基区的复合

——必须减小基区宽度W(控制好两个结深Xjc、Xje )。

——必须提高少数载流子的寿命(材料完整性要好,工艺中要尽量减少产

生二次缺陷和金属离子沾污。)

1-4-3晶体管的特性曲线

1 共发射极输出特性曲线

在特性曲线中可以看出:

  • 当IB=0时, IC≠0(= ICEO)
  • 当IB=IB1时,IC=βIB1 + ICEO
  • 对于某一IB=IBi,当VCE=0时,IC=0。当VCE电压开始增加时,集电极电流急剧增大,当VCE电压增大到一定数值后,IC开始转向稳定。这一段IC增大的快慢程度,反映了晶体管饱和压降的大小。
  • 输出特性曲线的三个工作区(见图17)

可划分为三个工作区: 1)放大区2)饱和区3)截止区

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