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  • [测试实例] CP测试中的Scan测试介绍 日期:2025-03-24 22:14:00 点击:314 好评:0

    1. Scan测试概述 Scan测试(扫描测试) 是一种用于检测芯片数字逻辑部分制造缺陷的方法。它基于扫描链(Scan Chain)技术,将芯片内部的寄存器连接成一条或多条串行链,利用这些链路...

  • [测试实例] 芯片测试中ADC的工作原理 日期:2025-03-24 21:50:22 点击:259 好评:0

    前面我们详细介绍了DAC工作原理, DAC(数模转换器)原理大揭秘 ,那么ADC是什么呢?模数转换器(ADC,Analog-to-Digital Converter)的主要功能是将模拟信号转换为数字信号,方便后续的数...

  • [测试实例] 芯片测试中的数字逻辑测试原理 日期:2025-03-24 20:44:00 点击:248 好评:0

    芯片测试(IC Testing) 是芯片制造过程中至关重要的环节之一,旨在验证芯片是否符合设计规格、功能是否正确,并筛选出不合格芯片。数字逻辑测试(Digital Logic Testing)主要用于检测...

  • [射频RF系列] 【PPT】射频基础知识讲座 日期:2024-11-25 19:02:00 点击:273 好评:0

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  • [射频RF系列] 一百多页的射频基础知识资料 日期:2023-01-30 11:07:00 点击:1737 好评:6

    第1章基本电路知识 1.1 直流电路 1.1.1儿个名词 1.1.2一个最简单的电路图 1.1.3 功率与用电量 1.1.4电阻 1.1.5线圈 1.1.6电容 1.1.7直流电的应用 1.2 交流电路 1.2.1 楞次定律 1.2.2原理示意性交流发...

  • [射频RF系列] 射频(RF)印刷电路板(PCB)设计、布局有哪些知识点 日期:2022-12-08 16:26:00 点击:552 好评:12

    射频(RF)印刷电路板(PCB)设计、布局有哪些知识点必须掌握? 电巢射频 2022-09-08 20:03发表于陕西 本应用笔记提供关于射频(RF)印刷电路板(PCB)设计和布局的指导及建议,包括关于混合信号应...

  • [测试实例] MOSFET的参数解析 日期:2022-04-22 09:35:15 点击:2106 好评:16

    几乎所有的书籍资料,在讲解MOSFET的时候,都喜欢先从微观结构去分析MOSFET基于半导体特性的各种结构,然后阐述这些结构导致其参数的成因。但是这种方式对于物理基础较弱的应用型...

  • [分立器件] 极性电容——说着简单,用着复杂 日期:2018-05-30 09:25:10 点击:2015 好评:72

    在极化电容器的简单到令人困惑的图解符号(见图 1)旁边是许多电子电路中一个复杂而重要的部件。按照其构造,该电容器通常称为电解质电容器或简称电解电容,在确保电源输出能...

  • [射频RF系列] 如何正确选择微波射频测试电缆 日期:2018-04-28 09:39:40 点击:1220 好评:120

    任何一个DUT都位于信号发生器和分析仪之间,而连接DUT和仪器之间的桥梁就是测试附件或测试系统。千万不要忽视这些测试附件,有条件时,最好能固化这些测试附件使之成为一个标准...

  • [模拟芯片] 测试入门-运放之VOS 日期:2015-09-05 16:10:56 点击:5652 好评:285

    温故而知新,因工作需要,最近重新学习了一下运算放大器 测试开发,基于ASL1000的平台 DOAL的。在这里记录一下,并分享给刚入行的兄弟们,也许你已经知道! 参考资料: 什么是运算...

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