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  • [数字芯片] Testing CD74HC354 Multiplexer by the Teradyne J750 Tester 日期:2009-11-05 10:55:18 点击:429 好评:2

    本文图文并茂的解说了使用Teradyne的J750测试机,开发一款数字IC--CD74HC354的详细过程,相信对大家的J750学习非常有帮助! Step 1: Creating the Channel Map Before the DUT can be tested, each pin on the DU...

  • [数字芯片] LCD Driver IC测试方法及其挑战 日期:2007-11-05 10:29:11 点击:494 好评:2

    LCD显示器件在中国已有二十多年的发展历程,已经从最初的以数字显示为主转变为以点阵字符、图形显示为主。LCD显示设备以其低电压驱动、微小功耗、能够与CMOS电路和LSI直接匹配、具...

  • [数字芯片] I2C总线应用下的EEPROM测试 日期:2006-10-27 09:53:46 点击:486 好评:0

    摘要:I2C总线是最早由PHILIPS公司推出的新一代串行扩展总线,广泛应用于IC器件之间的连接。本文在分析了I2C总线的工作原理及其特点后,通过对台湾CERAMATE公司生产的2Kbits的串行EEPR...

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