[测试实例] CP磁测试激励：推动晶圆磁测试技术创新 日期：2025-03-27 21:18:00 点击：437 好评：0
在半导体行业，随着技术的飞速发展，芯片的尺寸不断缩小、功能日益复杂，传统的测试方法逐渐无法满足日益增长的高精度、高效率需求。为此，新的测试技术应运而生，其中 CP磁测...
[测试实例] 基于车规数据分析技术，DPAT、NNR与GDBN 日期：2025-03-27 20:04:00 点击：2179 好评：12
随着汽车电子系统的快速发展，特别是自动驾驶和智能网联汽车技术的应用，车规级电子设备的质量控制和测试技术越来越重要。在测试过程中， 动态部件平均测试 （DPAT）、 临近残差...
[测试实例] 芯片不能穷测试 日期：2025-03-25 22:26:46 点击：538 好评：4
做一款芯片最基本的环节是设计-流片-封装-测试，芯片成本构成一般为人力成本20%，流片40%，封装35%，测试5%【对于先进工艺，流片成本可能超过60%】。 测试其实是芯片各个环节中最便...
[测试实例] 一文带你了解DFT测试 日期：2025-03-25 21:16:00 点击：736 好评：0
芯片的 DFT（Design for Test 可测性设计） 测试是指在芯片设计过程中，采用一系列技术和方法，使得芯片在制造后可以有效地进行测试，从而保证芯片的质量和可靠性。DFT的目的是通过优...
[测试实例] 芯片测试中，OS和LDO的区别 日期：2025-03-25 19:05:00 点击：630 好评：2
在芯片测试中，Open/Short测试和LDO（Low Dropout Regulator，低压差线性稳压器）测试是两个不同的测试项目，它们的目的和测试内容有所不同。 Open/Short测试： 也称为连通性测试或短路/开路...
[测试实例] CP测试中的Scan测试介绍 日期：2025-03-24 22:14:00 点击：1035 好评：4
1. Scan测试概述 Scan测试（扫描测试） 是一种用于检测芯片数字逻辑部分制造缺陷的方法。它基于扫描链（Scan Chain）技术，将芯片内部的寄存器连接成一条或多条串行链，利用这些链路...
[测试实例] 芯片测试中ADC的工作原理 日期：2025-03-24 21:50:22 点击：626 好评：0
前面我们详细介绍了DAC工作原理， DAC（数模转换器）原理大揭秘 ，那么ADC是什么呢？模数转换器（ADC，Analog-to-Digital Converter）的主要功能是将模拟信号转换为数字信号，方便后续的数...
[测试实例] 芯片测试中的数字逻辑测试原理 日期：2025-03-24 20:44:00 点击：599 好评：0
芯片测试（IC Testing） 是芯片制造过程中至关重要的环节之一，旨在验证芯片是否符合设计规格、功能是否正确，并筛选出不合格芯片。数字逻辑测试（Digital Logic Testing）主要用于检测...
[射频RF系列] 【PPT】射频基础知识讲座 日期：2024-11-25 19:02:00 点击：425 好评：0
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[射频RF系列] 一百多页的射频基础知识资料 日期：2023-01-30 11:07:00 点击：2047 好评：6
第1章基本电路知识 1.1 直流电路 1.1.1儿个名词 1.1.2一个最简单的电路图 1.1.3 功率与用电量 1.1.4电阻 1.1.5线圈 1.1.6电容 1.1.7直流电的应用 1.2 交流电路 1.2.1 楞次定律 1.2.2原理示意性交流发...
