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应部分网友要求，现推出一款经典开关电源的芯片—B494的测试实例，此例是基于ASL1000（以前称作为TMT）测试平台，此平台以性能稳定，测试精确著称，在国内装机量最大，目前几乎所有的封测厂均有ASL1000的机器，另外此例中的开关电源芯片中包括了基准电压源、误差放大器、振荡器以及触发器等功能、性能的测试，涵盖了大部分的模拟芯片测试，所以此例的推出，对广大模拟芯片测试以及ASL1000的初学者来说，应该是非常实用、并具有较高的参考价值的，现具体说明如下：
1、芯片简介
B494是一块开关式脉冲宽度调控电路，主要用于开关式电源控制。具有完善的脉宽调控电路；含主动或从动振荡器；含双误差放大器；含5V参考电源；死区控制可调；独立的输出晶体管（源流或陷流200mA）；输出控制方式采用推挽式或单端式。采用DIP16封装形式。其功能框图如下：
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引出端序号
|
功能
|
符号
|
引出端序号
|
功能
|
符号
|
|
1
|
正相输入
|
INPP
|
9
|
发射极输出（1）
|
E1
|
|
2
|
反相输入
|
INNP
|
10
|
发射极输出（2）
|
E2
|
|
3
|
PWM反馈比较输入
|
INfc
|
11
|
集电极电压
|
C2
|
|
4
|
死区时间控制
|
DTC
|
12
|
电源电压
|
Vcc
|
|
5
|
振荡频率调整电容
|
CT
|
13
|
输出控制
|
OUTcon
|
|
6
|
振荡频率调整电阻
|
RT
|
14
|
基准电压输出
|
Vref
|
|
7
|
地
|
GND
|
15
|
反相输入
|
INPP
|
|
8
|
集电极电压
|
C1
|
16
|
正相输入
|
INNP
|
具体资料参考如下：
494芯片资料下载.pdf
494开关电源工作原理分析.pdf
对于真正想掌握模拟芯片测试的工程师来说，熟悉其工作原理是至关重要的，所以，以上的两个文件必须认真仔细的研读并理解，这对你以后的调试是非常有帮助的。
2、测试参数及规范（整理的比较粗略，读者需要参考测试程序进行理解）
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测试项目 |
具体项目 |
测试条件 |
测试规范 |
单位 |
|
最小值 |
最大值 |
|
open-short |
PIN1 |
从该脚加电流-500A，钳位电压-2.0V，再测该脚电压: |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN2 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN3 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN4 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN5 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN6 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN8 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN11 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN12 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN13 |
-2.2 |
-1.2 |
V |
|
PIN14 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN15 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
PIN16 |
-1 |
-0.3 |
V |
|
基准电压 |
Vref |
加Vcc=15V时，在Io=1mA时测REF的电压 |
4.91 |
5.09 |
V |
|
REGline |
线性电压：加Vcc=7V时，测REF的电压（Io=1mA）Vref1；加Vcc=40V时，测REF的电压（Io=1mA）Vref2；REGline=Vref1-Vref2 |
0 |
25 |
mV |
|
REGload |
负载线性：加Vcc=15V时，测REF的电压（Io=10mA）Vref3，REGload= Vref-Vref3 |
0 |
30 |
mV |
|
SHORT_I |
短路电流，REF=0V，测电流short_I |
-2200 |
-30 |
mA |
|
静态电流 |
Icc15 |
RT=Vref , VCC=15v AND 40v 时，测其电流 |
4.5 |
12 |
mA |
|
Icc40 |
5 |
15 |
mA |
|
I_aver |
V(DTC)=2V ,VCC=15V 时，测其电流 |
3 |
12 |
mA |
|
振荡频率及功能测试 |
F8_15 |
闭合MUX14_3_2，MUX14_3_3，MUX14_3_4 ；FEEDBACK=2.7V，DTC=0V，OPTC=5V VCC=15V及40V时分别测试频率及上升时间、下降时间 |
7.3 |
13.3 |
KHZ |
|
F11_15 |
7.3 |
13.3 |
KHZ |
|
TR |
0 |
200 |
nS |
|
TF |
0 |
100 |
nS |
|
F8_40 |
7.3 |
13.3 |
KHZ |
|
F11_40 |
7.3 |
13.3 |
KHZ |
|
F8_03 |
死区控制功能测试 |
0 |
100 |
HZ |
|
F11_03 |
0 |
100 |
HZ |
|
F8_04 |
0 |
100 |
HZ |
|
F11_04 |
0 |
100 |
HZ |
|
误差放大器测试 |
VOFFSET1 |
Vcc=15V ，1IN+=0，1IN-=1，FEEDBACK=0.7V，测PIN3电流SINK_I1；2IN+=0，2IN-=1，FEEDBACK=0.7V，测PIN3电流SINK_I2；1IN+=1，1IN-=0，FEEDBACK=3.5V，测PIN3电流SOURCE_I1；2IN+=1，2IN-=0，FEEDBACK=3.5V，测PIN3电流SOURCE_I2； |
-9 |
9 |
mV |
|
IOFFSET1 |
-200 |
200 |
nA |
|
IBIAS1 |
-0.8 |
0.8 |
uA |
|
SINK1 |
0.3 |
0 |
mA |
|
SOURCE1 |
0 |
-2 |
mA |
|
VOFFSET2 |
-9 |
9 |
mV |
|
IOFFSET2 |
-200 |
200 |
nA |
|
IBIAS2 |
-0.8 |
0.8 |
uA |
|
SINK2 |
0.3 |
0 |
mA |
|
SOURCE2 |
-2 |
-2 |
mA |
|
输出管性能测试 |
IOFF8 |
测试输出管在关断时的漏电流 |
0 |
10 |
uA |
|
IOFF11 |
0 |
10 |
uA |
|
VSAT8 |
测试输出管饱和压降 |
0 |
1.3 |
V |
|
VSAT11 |
0 |
1.3 |
V |
|
部分管脚输入电流 |
I3 |
测试PIN3在5V时流入IC电流 |
0.3 |
0 |
mA |
|
I4L |
测试PIN4在低电平时电流 |
-10 |
0 |
uA |
|
I4H |
测试PIN4在高电平时电流 |
-10 |
0 |
uA |
|
I13L |
测试PIN13在低电平时电流 |
-200 |
0 |
uA |
|
I13H |
测试PIN13在高电平时电流 |
0 |
3.5 |
mA |
3、测试图(点击图片下载更清晰的测试图)
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