欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业IC测试网

当前位置: 网站主页 > 测试实例 >

(一)DFT概述和ATE测试

时间:2025-11-20 20:49来源:浍河边上 FAB to 芯片数字后 作者:ictest8_edit 点击:

 

什么是DFT


测试的重要性


测试的主要目的


DPPM



为什么需要DFT



加入DFT逻辑后的影响




DFT在整个芯片设计流程中所处的阶段



常见的芯片制造故障(缺陷)



DFT通常包括哪些技术



ATE(automatic test equipment)测试(1)



ATE(automatic test equipment)测试(2)



测试诊断分析(diagnosis)




顶一下
(0)
0%
踩一下
(0)
0%
------分隔线----------------------------
发表评论
请自觉遵守互联网相关的政策法规,严禁发布色情、暴力、反动的言论。
评价:
用户名: 验证码: 点击我更换图片