[测试机台/ATE] 利用测时仪测量交流信号的直流偏移 日期：2014-05-22 23:30:31 点击：1279 好评：280
关键字：测时仪 交流信号 直流偏移 在如今的半导体领域，要确定集成电路器件的功能性是否满足要求，往往需要对其进行多种电测试。其中一项就是测量器件的时序，这时必须用到测...
[测试机台/ATE] 集成电路IC测试机简介 日期：2013-04-20 11:43:36 点击：4521 好评：794
集成电路测试机的种类，若依照其测试功能一般可区分为Logic测试机，Memory测试机及Mixed-signal测试机三大类。其中Logic测试机应用于一般消费性IC，如Voice，MCU IC等测试使用，Memory测试机...
[测试机台/ATE] ASL1000测试系统资料 日期：2012-10-16 20:20:31 点击：8475 好评：600
随着半导体行业的快速发展,对于测试集成电路电参数的精度和速度的要求也越来越高,测试设备和方法的改进日显迫切,自动测试系统的出现可以满足集成电路的各种测试需求。ASL1000TM是...
[测试机台/ATE] TR6850测试系统介绍 日期：2012-05-21 20:43:06 点击：3630 好评：681
TR6850测试系统介绍 TR-6850测试系统是针对电源管理和混合信号的集成电路测试所特别设计。 最多可达256个数字通道，测试速度33MHz,8M的pattern深度。 专属运放电路测试模组。 16位元任意波...
[测试机台/ATE] JUNO DTS1000测试系统介绍 日期：2012-04-27 14:19:00 点击：5287 好评：602
JUNO DTS-1000 测试系统说明书 2 目录 1 测试项目表（精度及范围） 1.0 通用项目 1.1 晶体管 1.2 FET 1.3 二极管 1.3.1 L.E.D 1.4 三端稳压器 1.4.1 Shut Regulator 1.4.2 Voltage Regulator 1.4.3 Low Drop Low Noise V...
[测试机台/ATE] TR6800案例资料 日期：2012-04-14 20:47:22 点击：1761 好评：626
Single site double volt,curr; int CL_Time; #define VERROR 0.003 #define VERRORH 0.005 #define CLAMP_VERROR 0.03 #define IERROR 0.003 #define IERRORH 0.004 #define CLAMP_IERROR 0.03 #define RLY_STON 0.005 #define RLY_STOFF 0.001 #define ON 1...
[测试机台/ATE] TR6800测试系统资料 日期：2011-11-06 20:38:44 点击：2147 好评：659
TRIs TR6800 IC tester is specially designed for testing Power Management ICs. It is ideal for testing regulators, detectors, resets, switches, HCS and TMU modules for DC parameter measurement, AC32 and AC64 modules for functional pattern te...
[测试机台/ATE] 一种钽电容自动测试系统的介绍 日期：2010-09-17 20:17:31 点击：1168 好评：864
钽电容器是一种较新型的电解电容器，自从五十年代问世以来，即以其优异的性能，如体积小、单位体积电容大(是铝电解的3倍)，漏电流少(钽电解要比铝电解小一级数量级)，工作温度...
[测试机台/ATE] 一种数字集成电路测试系统的设计 日期：2010-09-17 11:52:21 点击：1007 好评：674
摘要:介绍了一种数字集成电路测试系统的工作原理、组成。提出了系统的软硬件设计方案。该系统基于自定义总线结构，可测试电平范围宽。 关键词:数字集成电路 测试功能 测试通道...
[测试机台/ATE] 一种基于AT89C52的简单集成电路测试仪的设计 日期：2010-09-16 12:04:28 点击：993 好评：672
在高校的教学实验环节中，需要大量地使用一些基本系列的集成芯片。目前，市场上存在一种可以对TTL、CMOS数字芯片进行检测的工程应用型测试仪，但是考虑到其价格较贵，较难满足学...
