欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408
注册
|
登录
|
高级搜索
|
网站地图
|
[
设为首页
] [
加入收藏
]
网站首页
测试工程
测试理论
测试实例
测试设备
相关技术
经验分享
测试研讨会
测试论坛
业界新闻
职业规划
拓展业务
关于我们
搜索
检索标题
智能模糊
搜索
热门标签:
TR6850
eeprom
ASL1000
IDDQ
LCD driver
ACCOTEST
Kalos
FA
csp测试
封装测试
当前位置:
网站主页
>
测试设备
>
测试机台/ATE
>
[
混合信号芯片
]
通信类SoC-Base Band测试方案
日期:
2005-02-25 09:33:32
点击:
1334
好评:
691
通信类SoC测试方案Base Band 徐勇,魏炜,川端雅之,小圆祐一,浅见幸司 ADVANTEST 摘要:本篇文章主要是以无线通信芯片的测试为课题来加以分析的。为了解决这个课题,在此将介绍基于...
首页
上一页
1
2
3
4
5
6
末页
1
2
3
4
5
6
共
6
页
51
条
栏目列表
测试机台/ATE
分选机/handler
探针台/probe
测试座/socket
测试板/loadboard
探针卡/probe card
测试元器件
热文排行
基于数字IC测试机架构详细讲解测试
ASL1000测试系统资料
CHROMA 3380D 超大规模集成电路测试系
宏邦电子T861集成电路测试设备简介
chroma相关测试机台介绍
JUNO DTS1000测试系统介绍
低成本、高效率8site MOSFET/IC 量产测
ATE加流测压及加压测流的设计
本类推荐
AEC-Q100车规芯片验证C5:SBS - Solder
AEC-Q100车规芯片验证G8:IWV - Intern
[ATE知识] 机台如何同步DUT接口时序
[ATE知识] 01-DC参数之VIHL,VOHL
低成本、高效率8site MOSFET/IC 量产测
高速接口TVS的微小结电容量产测试
集成电路测试设备盈利模式浅析
基于数字IC测试机架构详细讲解测试