一些基本参数的测试原理

Open/ShortTest

Open/Short的测试原理是测试对VDD或VSS的保护两极管。一般我们有两种方法，一种是用PMU灌入电流测电压，另一种是用Function测试的方法用动态负载加载I_OL/I_OH电流比较电压。前一种方法每测一根引脚需要10ms，后一种方法一共需要50ms左右。由此可见在引脚数较多的情况下后一种方法有明显的优势。

图(7)

上图是用PMU测Open/Short。它通过PMU提供100uA的电流来验证每个引脚对V_DD的保护两极管的好坏。如图(3)我们可把V_OH/V_OL设成1.5V/0.2V 。如果测出的电压大于V_OH(1.5V)，那么该引脚是Open fail。如果测出的电压小于V_OL(0.2V)，那么该引脚是Short fail。

图(8)

上图也是用PMU测Open/Short。它通过PMU提供-100uA的电流来验证每个引脚对V_SS的保护两极管的好坏。如图(3)我们可把V_OH/V_OL设成-0.2V/-1.5V 。如果测出的电压大于V_OH(-0.2V)，那么该引脚是Short fail。如果测出的电压小于V_OL(-1.5V)，那么该引脚是Open fail。

图(9)

上图是用跑Pattern的方法测Open/Short。首先将所有的PowerPin接地(V_DD=0)设V_REF=-2V( VREF是Dynamic Loading的参考电压。并控制电流I_OL和I_OH)，加上动态负载I_OL/I_OH各100uA，再逐次将每根引脚的输出电压与V_OH(-0.2V)/V_OL(-1.0V)比较。如果测出的电压大于V_OH，那么该引脚是Shortfail。如果测出的电压小于V_OL，那么该引脚是Open fail。

测试所需用到的Pattern可参考如下格式：

GFFFFFFFF /*测试第一根引脚的保护两极管*/

FGFFFFFFF /*测试第二根引脚的保护两极管*/

FFGFFFFFF 。

FFFGFFFFF 。

FFFFFGFFF 。

FFFFFFGFF 。

FFFFFFFGF 。

FFFFFFFFG /*测试第八根引脚的保护两极管*/

其中G的含义是无论INPUT、OUTPUT、I/O PIN均可DRIVE 0；

F的含义是无论INPUT、OUTPUT、I/O PIN均可比较。

IDDTEST

IDD是测量芯片处在不同状态下流出V_DD或流入V_SS(当有几个DPS供电)的电流。一般我们将IDD电流分成Static、Dynamic二种。其中我们将IDD StaticCurrent定义为当芯片处于象Sleep模式或Stop模式下的IDD电流；IDD DynamicCurrent定义为当芯片处于象Standby模式或Operation模式下的IDD电流。Static与Dynamic的区别在于芯片所处的状态中内部RC/Oscillator是否起振，如果起振那该状态下的IDD电流称为IDD DynamicCurrent，相反则称为IDDStatic Current。

图(10)

如上图通过PMU/DPS给V_DD提供电源，给所有的Input引脚相应的V_IH/V_IL防止因为悬空而产生的漏电流，并且输出不接负载防止额外的电流消耗。然后用相应的测试单元来测量电流。

VOL/IOLVOH/IOH TEST

V_OL/I_OL是测当输出引脚输出低电平时输出阻抗，V_OH/I_OH是测当输出引脚输出高电平时输出阻抗。其主要目的是验证拉或灌相应的电流，它的输出电压V_OH/V_OL是否处于正确的电平。测试方法可分成动态和静态两种。静态方法是用PMU对输出引脚提供电压/电流，然后在逐一测电压/电流。动态方法是在Function的测试过程中加载动态负载电流，然后再比较电压。

图(11)

如上图在跑Function时，在输出高电平时加载I_OH电流，比较输出高电平是否正确。在输出低电平时加载I_OL电流，比较输出低电平是否正确。

InputCurrent (IIL/IIH)

IIL主要是测量输入引脚对VDD的漏电流，IIH是测量输入引脚对VSS的漏电流。这项测试除了验证输入阻抗是否符合SPEC.的要求并且也是鉴定CMOS芯片制程问题的方法。对于InputCurrent的测量我们一般用Serial和Ganged三种方法来测试。其中串行测试可测出引脚与引脚之间的漏电流，但所需的测试时间比较长。合并测试可节约测试时间，但合并测试的Limit比较难设定。

图(12)

对于串行测试，在进行IIL测试时首先通过Pattern将所有的输入引脚置高电平，然后用PMU逐个提供低电平测量电流。在进行IIH测试时首先通过Pattern将所有的输入引脚置低电平，然后用PMU逐个提供高电平测量电流。

对于合并测试是将所有的输入引脚并成一个引脚用PMU提供高电平或低电平进行电流测试。对于CMOS的芯片其输入阻抗非常大所以它的输入漏电流十分小。一般我们会将CurrentLimit定成一根引脚的所允许的最大电流值。