欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业集成电路测试网-芯片测试技术-ic test

当前位置: 网站主页 > 测试设备 > 测试机台 >

基于数字IC测试机架构详细讲解测试理论(3)

时间:2015-02-07 10:58来源:宏测半导体 作者:ictest8 点击:

功能测试简介

功能性测试主要是验证逻辑功能。在主程序的功能测试部分中包括测试向量和相关的测试命令。其中测试向量在输入时向芯片提供逻辑状态,在输出时比较芯片的逻辑状态。在程序中的测试命令是用来控制硬件产生相应的电压、波形和时序。

(3)

 

在功能测试过程中,测试系统以周期为单位将输入数据提供给芯片并比较输出数据。如果输出数据与默认的逻辑状态(测试向量的值)、电压和波形不同,则我们认为该功能测试不通过。

 

TestVector

Test Vector也可称为test patterntruth table。测试向量是芯片根据设计要求而所因具有输入输出值的集合。一般用