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芯片封装&测试流程(3)

时间:2023-02-17 11:47来源:RFIC封装攻城狮之家 作者:ictest8_edit 点击:
 
 
EOL– End of Line后段工艺
 
 
 
EOL– Molding(注塑)
 
 
 
 
 
 
 
 
 
EOL– Laser Mark(激光打字)
 
 
 
 
 
 
在产品(Package)的正面或者背面激光刻字。内容有:产品名称,生产日期,生产批次等;
 
EOL– Post Mold Cure(模后固化)
 
 
 
 
用于Molding后塑封料的固化,保护IC内部结构,消除内部应力。Cure Temp:175+/-5°C;Cure Time:8Hrs
 
EOL– De-flash(去溢料)
 
 
 
目的:De-flash的目的在于去除Molding后在管体周围Lead之间 多余的溢料; 方法:弱酸浸泡,高压水冲洗;
 
EOL– Plating(电镀)
 
 
 
利用金属和化学的方法,在Leadframe的表面 镀上一层镀层,以防止外界环境的影响(潮湿 和热)。并且使元器件在PCB板上容易焊接及 提高导电性。
 
电镀一般有两种类型:
 
Pb-Free:无铅电镀,采用的是>99.95%的高纯 度的锡(Tin),为目前普遍采用的技术,符合 Rohs的要求;
 
Tin-Lead:铅锡合金。Tin占85%,Lead占 15%,由于不符合Rohs,目前基本被淘汰;
 
 
 
EOL– Post Annealing Bake(电镀退火)
 
 
 
 
目的:让无铅电镀后的产品在高温下烘烤一段时间,目的在于 消除电镀层潜在的晶须生长(Whisker Growth)的问题; 条件:150+/-5C; 2Hrs;
 
EOL– Trim&Form(切筋成型)
 
 
 
 
Trim:将一条片的Lead Frame切割成单独的Unit(IC)的过程; Form:对Trim后的IC产品进行引脚成型,达到工艺需要求的形状, 并放置进Tube或者Tray盘中;
 
EOL– Final Visual Inspection(第四道光检)
 
 
 
在低倍放大镜下,对产品外观进行检查。主要针对EOL工艺可能产生的废品:例如Molding缺陷,电镀缺陷和Trim/Form缺陷等。
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