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半导体测试基础(4)

时间:2008-12-14 12:39来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

1.  驱动单元(The Driver)

    驱动电路从测试系统的其他相应环节获取格式化的信号,称为FDATA,当FDATA通过驱动电路,从参考电压源(RVS)获取的VIL/VIH参考电平被施加到格式化的数据上。如果FDATA命令驱动单元去驱动逻辑0,则驱动单元会驱动VIL参考电压;VIL(Voltage In Low)指施加到DUT的input管脚仍能被DUT内部电路识别为逻辑0的最高保证电压。

    如果FDATA命令驱动单元去驱动逻辑1,则驱动单元会驱动VIH参考电压;VIH(Voltage In High)指施加到DUT的input管脚仍能被DUT内部电路识别为逻辑1的最低保证电压。

    F1场效应管用于隔离驱动电路和待测器件,在进行输入-输出切换时充当快速开关角色。当测试通道被程序定义为输入(Input),场效应管F1导通,开关(通常是继电器)K1闭合,使信号由驱动单元(Driver)输送至DUT;当测试通道被程序定义为输出(Output)或不关心状态(don’t care),F1截止,K1断开,则驱动单元上的信号无法传送到DUT上。F1只可能处于其中的一种状态,这样就保证了驱动单元和待测器件同时向同一个测试通道送出电压信号的I/O冲突状态不会出现。

2.  电流负载单元(Current Load)

    电流负载(也叫动态负载)在功能测试时连接到待测器件的输出端充当负载的角色,由程序控制,提供从测试系统到待测器件的正向电流或从待测器件到测试系统的负向电流。

    电流负载提供IOH(Current Output High)和IOL(Current Output Low)。IOH指当待测器件输出逻辑1时其输出管脚必须提供的电流总和;IOL则相反,指当待测器件输出逻辑0时其输出管脚必须接纳的电流总和。

    当测试程序设定了IOH和IOL,VREF电压就设置了它们的转换点。转换点决定了IOH起作用还是IOL起作用:当待测器件的输出电压高于转换点时,IOH提供电流;当待测器件的输出电压低于转换点时,IOL提供电流。

    F2和F1一样,也是一个场效应管,在输入-输出切换时充当高速开关,并隔离电流负载电路和待测器件。当程序定义测试通道为输出,则F2导通,允许输出正向电流或抽取反向电流;当定义测试通道为输入,则F2截止,将负载电路和待测器件隔离。

    电流负载在三态测试和开短路测试中也会用到。

3.  电压比较单元(Voltage Receiver)

    电压比较器用于功能测试时比较待测器件的输出电压和RVS提供的参考电压。RVS为有效的逻辑1(VOH)和逻辑0(VOL)提供了参考:当器件的输出电压等于或小于VOL,则认为它是逻辑0;当器件的输出电压等于或大于VOH,则认为它是逻辑1;当它大于VOL而小于VOH,则认为它是三态电平或无效输出。

4. PMU连接点(PMU Connection)

     当PMU连接到器件管脚,K1先断开,然后K2闭合,用于将PMU和Pin Electrics卡的I/O电路隔离开来。

5. 高速电流比较单元(High Speed Current Comparators)

    相对于为每个测试通道配置PMU,部分测试系统提供了快速测量小电流的另一种方法,这就是可进行快速漏电流(Leakage)测试的电流比较器,开关K3控制它与待测器件的连接与否。如果测试系统本身就是Per Pin PMU结构的,那么这部分就不需要了。

6. PPPMU(Per Pin PMU)

    一些系统提供Per Pin PMU的电路结构,以支持对DUT每个管脚同步地进行电压或电流测试。与PMU一样,PPPMU可以驱动电流测量电压或者驱动电压测量电流,但是标准测试系统的PMU的其它功能PPPMU则可能不具备。

测试开发基本规则

  任何工作都有其规则和流程,IC测 试也不例外。我们在实际工作中看到,一些简单的错误和低级的问题经常在一个又一个的程序中再现,如果有一定的标准,相信情况会好很多。这里我们就来总结一 些基本的规则,它们将普遍适用于多数的实例;也许其中的一些在我们看来是显而易见的,但是在测试硬件无误的情况下,很多人还是在不经意间违反。可能大家会 说了,谁这么傻呀?呵呵,相信大家都不会主动这么做,但是粗心呢?如果你决定刻意违反其中的某一条或几条的话,请确定你完全知道后果。^_^

1  永远不要将DUT的输入管脚当作输出管脚进行功能测试。最常见的是在pattern中,如果一个输入管脚在此测试项不需要去管(既给0或给1不影响此测试结果),我们有人就给它“X”,而“X”是输出测试的mask态,这样测试机就会将此管脚当作输出去处理,连接到比较电路,只是对结果不做比较。记住,在功能测试中,输入管脚不能直接测试以期得到pass/fail的结果;信号施加到输入管脚,我们需要测试的是输出管脚。

2  永远不要将测试机的驱动单元连接到DUT的输出管脚。此举会造成测试机和器件本身会在同一时间驱动电压和电流到该管脚,当它们在某一点相遇时,那就是狭路相逢勇者胜了,输的一方会受伤哦!

3  永远不要悬空(float)某个输入管脚,一个有效的逻辑必须施加到输入管脚,0或者1。对于CMOS工艺的器件,悬空输入管脚会造成闩锁(latch-up)现象,导致大电流对器件造成破坏。

4  永远不要施加大于VDD或小于GND的电压到输入或输出管脚。否则同样会引起浪涌现象损害器件。

5  驱动电压信号到DUT时,记得设置电流钳制,限制测试机的最大输出电流。

6  驱动电流信号到DUT时,记得设置电压钳制,限制测试机的最大输出电压。

7  永远不要在驱动单元与器件引脚连接时改变驱动信号(电压或电流)的范围,也不要在这个时候改变PMU驱动的信号类型(如将电压驱动改为电流驱动)。

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