[测试理论] 线性电源LDO基础知识:电源抑制比 日期:2022-07-30 17:18:15 点击:653 好评:4
PSRR是一个常见的技术参数,在许多LDO datasheet里都能看到,他规定了在特定频率的交流信号从LDO输入到输出的衰减程度...
[测试理论] 功率MOSFET基础详解 日期:2022-07-23 12:29:57 点击:1895 好评:10
功率MOSFET作为一个应用及其广泛的基础元器件,我们测试工程师有必要深入了解一下,如下为power MOS的详细介绍,敬请参考 副标题 副标题 副标题 副标题...
[测试理论] Boost升压电路原理及设计详解 日期:2022-07-16 19:53:05 点击:879 好评:6
Boost电路是一种开关直流升压电路,它能够使输出电压高于输入电压。在电子电路设计当中算是一种较为常见的电路设计方式。本文将给大家介绍boost基本原理、电路参数设计。 首先我...
[测试理论] ADC基础及测试详解 日期:2022-04-21 18:03:58 点击:5653 好评:16
本文的目的是介绍高速ADC相关的理论和知识,详细介绍了采样理论、数据手册指标、ADC选型准则和评估方法、时钟抖动和其它一些通用的系统级考虑。另外,一些用户希望通过交织、平...
[芯片制造] 芯片制造的简单科普 日期:2018-06-01 15:53:53 点击:2335 好评:159
当今市场上几乎所有的电子商品,或多或少都会用几片集成电路(IC)来控制各种功能,复杂的如电脑中的CPU,GPU (图形处理器) ,简单的如电池中防止过度充电的控制电路。不论多复...
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电的发现是人类历史的革命,由它产生的动能每天都在源源不断的释放,人对电的需求不亚于人类世界的氧气,如果没有电,人类的文明还会在黑暗中探索。 然而在电力电子里面,最重...
[测试基础理论] 高速数字信号管脚的常用测试方法 日期:2015-09-06 21:52:03 点击:2656 好评:267
一直都没有机会聊具体的测试技术 , 今天就开始聊一下 . 介绍下高速数字信号管脚的常用测试方法 目前越来越多的 SOC 芯片都会有高速的数字信号管脚 , 常见的如 LVDS,HDMI 以及 PCIe 等信...
[芯片相关原理] ADC相关知识整理 日期:2015-09-06 21:07:58 点击:1171 好评:280
过采样频率: 增加一位分辨率或每减小6dB 的噪声,需要以4 倍的采样频率fs 进行过采样. 假设一个系统使用12 位的ADC,每秒输出一个温度值(1Hz),为了将测量分辨率增加到16 位,按下式计...
[芯片相关原理] 详解IGBT的工作原理和作用 日期:2015-02-07 12:17:12 点击:1056 好评:250
本文通过等效电路分析,通俗易懂的讲解IGBT的工作原理和作用,并精简的指出了IGBT的特点。可以说,IGBT是一个非通即断的开关,兼有MOSFET的高输入阻抗和GTR的低导通压降两方面的优点...