[优化经验] 关于测试数据的重要性 日期：2015-04-15 22:37:21 点击：1407 好评：267
今天来说一下测试数据，不管是在半导体产品研发、验证，还是测试开发、生产中，测试数据都是贯穿其中并起到极其重要的作用。 测试数据，是产品测试中产生的数据，包括测试验证...
[优化经验] MTM（multifunctional trimming module) 日期：2014-05-24 21:54:51 点击：1385 好评：267
MTM （ multifunctional trimming module) － Dynamic Adjustment and Re-trim Solution TE: Vince Wei/Jerry Gao We always need to trim the fuse to adjust some parameter to a target value when chip probing(CP) . The processes of a common trimmi...
[优化经验] IC测试QQ群(111938408)经典讨论---测试良品的标准 日期：2014-02-19 19:11:17 点击：934 好评：343
IC测试QQ群经典讨论之测试良品的标准 Dragon 11:34:46 求助： 有没有这个标准，说出货的良品里面不良品的百分比是多少算合格？ 万分之一？ Richard 11:35:38 不是有AQL吗 按GB2828 Dragon 11:35:5...
[优化经验] 为什么你的测试测不准—浅谈测试里的误差问题 日期：2014-01-20 15:44:27 点击：1421 好评：330
今天之所以要讲这个话题,主要是因为我看到现在还有不少的测试工程师还在把测试开发当作一个纯软件的工作.从软件的角度来看,输入固定的信息一般总是可以获得确定的结果,无论重复...
[优化经验] 设计公司应该如何充分利用量产测试数据 日期：2013-12-19 17:10:14 点击：905 好评：330
中国人有一句俗话,入宝山岂可空手而归.凡是有价值的东西,就要充分加以利用.有枣没枣都要打三杆子的时代,不能做捧着金饭碗要饭的事情.不过可惜的是,似乎很多的芯片设计公司,都在...
[优化经验] wafer test Yield 的分析及提高 日期：2010-08-15 20:58:18 点击：2519 好评：842
本文详细介绍了半导体制造过程中良率的提高分析,运用大量实例说明如何提高良率,作为测试工程师在CP测试中遇到低良率情况时,可以参考此资料,以分析测试及wafer各方面问题,另外本资...
[测试生产工程] 如何提升IC测试厂的产能利用率 日期：2008-10-24 11:08:18 点击：1753 好评：467
前言 IC测试厂最重要的两大指标就是测试品质与生产效率。测试品质的关键在于测试的再现性与可重复性，而生产要素除了合格率的因素外，最主要的就是测试设备的产能利用率。在质...
