欢迎光临专业集成电路测试网~~欢迎加入IC测试QQ群:111938408

专业IC测试网

BC3196D数模混合测试系统介绍

时间:2008-06-03 21:05来源:www.ictest8.com 作者:ictest8 点击:

  系统概述
BC3196D数模混合集成电路测试系统是北京新(东)润泰思特测控技术有限公司自行研制、开发、生产的大规模数模混合集成电路测试系统。本系统可快速、准确地对各类大、中、小规模集成电路进行全参数测试(功能、直流参数、交流参数),具体如表1所示。
表1 系统可测试器件列表
器件系列
主要类型
TTL系列
74/54﹑74/54LS﹑74/54S﹑74/54F﹑74/54ALS
CMOS系列
4000/4500
高速CMOS系列
74/54HC﹑74/54HCT
通用数字器件系列
解码器、译码器、接口电路、接收器、应答器、比较器电路
接口电路及微处理器系列
8000系列﹑51系列单片机等
存储器系列
SRAM﹑SBRAM、SDRAM、EPROM﹑PROM等
IC卡系列
存储卡、智能卡
驱动电路系列
LED、LCD驱动电路
模拟电路系列
运算放大器﹑功放电路、模拟开关﹑采样保持电路﹑音响电路、马达驱动电路﹑精度电压基准源、稳压器等
数模混合电路系列
AD/DA转换电路﹑电话机电路﹑拨码电路、电表电路等
电源管理及三端稳压系列
78XX﹑79XX﹑117﹑317﹑MAX882等
本公司具有丰富的测试程序库,并可根据用户要求开发部分测试程序。
BC3196D测试系统具有覆盖面宽、测试精度高、性能稳定、操作使用方便等特点。特别适合集成电路生产厂家生产性测试、质量监测部门检验测试及集成电路设计单位分析测试。
系统控制软件是基于Windows的应用程序。控制软件集成了测试程序开发、测试程序管理、器件测试以及数据报表处理等工具,使用和维护非常简单,易于掌握。通过图形界面向导生成测试程序框架,仅需要用户使用C或C++语言完成测试命令编写即可。系统为用户提供了国际通用的图形矢量编辑格式,编程简捷,适用于不同层次的用户使用。
系统提供了全面、完善的自检工具和自动校准工具,可通过GPIB或RS232接口连接通用测量仪器、仪表,对系统进行精度校准;也可以通过这两个接口控制外接仪器和设备完成辅助测试。
系统提供机械手接口、IEEE488接口、RS232接口以及手控盒接口,可以方便的连接各种类型的机械手和探针台,特别适合生产线大批量的成品测试或晶圆测试。
系统通过国家相关鉴定中心鉴定,系统测试原理符合相应的国家标准、国家军用标准和部门标准。
技术指标
标准配置:
测试通道:64个数字通道。
动态功能测试速率:1.6KHz~20MHz。
BC3196D 数模混合集成电路测试系统简介 北京新润泰思特测控技术有限公司
图形发生器:图形深度128K~16M x 3bit/通道;最大图形速率30MHz。
通道驱动器、比较器:每通道独立,驱动电压范围-8V~+8V,比较器电压基准范围-7V~+7V。
每16个数字通道一个独立精密测量单元(PMU),电压范围±10V,电流范围±360mA。
8路高压PMU,电压范围±30V,电流范围±1A,1~8路通过矩阵可连接到通道。
2路VS,电压分别为-10~+50V和10~-50V,电流范围±1A。
2×8×5的高压PMU继电器矩阵。
时间测量单元(TMU):包括2路时间测量单元、1路高精度数字电压表(DVM)及1路电压基准源(VREF)。
音频单元(WGWA):包括2路任意波形发生器(WG)和2路波形分析器(WA)。
可选配置:
3路大电流PMU(HIPMU),电压分别为-5V~+35V和-35V~+5V,-35V~+35V,电流范围±3A。
注:选配资源HIPMU占用PMU5~8以及通道33~64位置,二者无法同时使用。
数字子系统技术指标
动态功能测试速率:1.6KHz~20MHz。
图形发生器:图形深度128K~16M x 3bit/通道;最大图形速率30MHz。
时钟发生器:
(1)时钟可调范围:1.6KHz~30MHz。
(2)时钟周期调整分辨率:10ns。
(3)程控时钟:1-9,占空比可调。延时和占空比调整分辨率为5ns,定时精度误差 ±2ns。
(4)精密程控时钟:10-12,占空比50%,延时调整分辨率0.313ns,定时精度误差±0.6ns。
通道驱动格式:
(1)12路程控时钟可连接到任意通道,均可以设为格式化时钟。
(2)时钟最小脉宽20ns。
(3)格式化时钟延时范围:施加周期起始到(施加周期-10ns)可调。
(4)图形驱动格式:不格式化(NF)、非归零格式(NRZ)、归零格式(RTZ)、归一格式(RTO),循环补码格式(SBC)、和曼彻斯特格式(MCH)。
通道比较格式:
(1)12路程控时钟可连接到任意通道,均可设为比较时钟。
(2)时钟最小脉宽20ns。
(3)比较时钟延时从(比较周期开始+10ns)到(比较周期结束-10ns)可调。
(4)支持窗口和边沿比较方式。
功能测试:
(1)支持软图形、硬图形测试功能及硬图形调试功能。
(2)图形运行方式:失效停止、定位置停止、HALT停止及单步停止。
(3)每通道1bit x 512K捕捉存储器。
(4)实时单步硬图形运行,速度范围:1.6KHz~20MHz。
(5)图形编辑界面可以实现对数字子系统的设置、管脚分配、图形编辑、图形装载、调试和分析功能。
…………………… …………

 

具体请下载参考: 
BC3196D数模混合测试系统简介.pdf

BC3196D测试系统编程手册.pdf

BC3196D测试系统硬件基础手册.pdf

BC3196D软件使用手册.pdf

 

顶一下
(0)
0%
踩一下
(0)
0%
------分隔线----------------------------
发表评论
请自觉遵守互联网相关的政策法规,严禁发布色情、暴力、反动的言论。
评价:
用户名: 验证码: 点击我更换图片