Power_Short测试
时间:2024-01-10 13:39来源:半导体杂谈 作者:ictest8_edit 点击:
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Power short测试也是OS测试的一种,它测量的是电源pin short。为什么测量的是short,而不是open呢?如果电源pin出现open和short这两种情况,那么哪一种后果更严重呢?可想而知是short对芯片的影响更大,轻则使芯片不能正常工作,严重的还可能导致机台损坏,而open导致机台受损的概率非常小。因此相对于open,测试short显得格外重要。
那么再说一下测试power short的原理,其实很简单。只要给power pin一个电压测量电流即可,但有两点需要注意下。一点是给电压的大小,一点是存在多个电源pin的情况。
我们先说给电压的大小,这时候我们给一个小电压即可(大的电压可能导致芯片工作产生大的电流),那么电压给多少合适呢?一般情况下0.05V~0.3V之间即可,具体根据情况而定。第二点就是如果存在多个电源pin,要给相同的电压么?一般不这么做,原因和OS_FUNC测试IO pin的一样,pin 与pin之间short如果给相同电压测不出来(思考下为什么)。因此做法是不同的电源pin给不同电压,如下图所示为多个电源pin测量power short给的电压值。
对于电流的limit,一般是根据客户提供的spec写。如果客户没有明确的spec,也可拿golden芯片根据实际测量的结果去定,一般情况下为±1mA。
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