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集成电路测试程序优化技术分析
日期:
2010-08-15 20:54:47
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842
冯蕊,于祥苓,周劲松 (中国电子科技集团公司第四十七研究所,沈阳ll0032) 摘要:介绍了在E 77O测试系统上对集成电路测试程序进行优化的方法。通过具体数据说明应用不同的测试方法...
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