美商國家儀器(NI)推出半導體測試系統(STS) 系列。基於 PXI 架構的 STS 自動化測試系統針對半導體生產測試環境的 PXI 模組，有助於降低 RF 和混合式訊號裝置的測試成本。

相較於傳統的半導體自動化測試設備(ATE)， STS 先期使用者證實新系統有助於降低生產成本、提高產能，而且還可透過相同的硬體和軟體工具同時執行特性測試與生產作業，從而快速設立資料關聯並縮短上市時間。

不同於傳統 ATE 的封閉式架構，STS 具有開放式的模組化架構，可協助工程師運用先進的 PXI 儀器。這對 RF 和混合式訊號測試而言尤其重要，因為傳統 ATE 的測試範圍通常無法滿足最新半導體技術的需求。

STS

搭載 TestStand

測試管理軟體和 LabVIEW 系統設計軟體，針對半導體生產環境提供了豐富的功能組合，包含可客制化的作業介面、分類機/針測機整合、裝置為主的程式設計和針腳-通道配置、標準測試資料格式報表製作、整合式多地點支援等等。有了這些功能，工程師即可迅速開發測試程式、加以除錯並完成部署，縮短整體的上市時間。此外 STS

還配備了全封閉式的「零佔用空間」測試頭、標準銜接與連結機構，可立即整合至半導體生產測試單元。

STS

系列提供三種不同的機型：T1、T2、T4，分別容納了 1、2、4 個 PXI 機箱。這些尺寸選項，再加上所有 STS 機型通用的軟體、儀控和互連機構，可協助工程師充分滿足不同的針腳和地點數量需求。此外，便於擴充的 STS

還可以部署至特性測試甚至是生產環境，藉此最佳化成本效益、大幅簡化設立資料關聯的程式，進而縮短上市時間。

為了協助客戶順利達成目標，NI 提供豐富的教育訓練、產品與服務，同時還有全球 NI 工程專家和 NI 聯盟夥伴的強力支援。