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随着大家的焦急等待，我们第六届IC测试研讨
会的具体时间、地点终于确定了！！
时间：2015年11月07日（星期六） 13:30-17:30
地点（老地方）：上海浦东新区张江高科技园区
碧波路635号传奇广场3楼IC咖啡（地铁2号线张江高科
站）
本次研讨会我们精选了三个极具代表性的主题，分别由三位业界超资深人士详细
讲解，相信会为大家带来超乎想象的收获……
简要议程如下，具体可能会有调整：
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时 间
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报告主题
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演讲人
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13:30-14:00
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签到
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14:00-14:10
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开场致辞
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14:10-14:50
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《汽车电子的测试及质量控制》
众所周知，汽车电子的质量直接关系到生命的安全，那么汽车类芯片的测试该如何进行？质量如何把控？今天我们有幸邀请到TI资深测试工程师来给大家分享一下汽车电子的测试，相信来参加研讨会的你必有收获！
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TI资深测试工程师
--- Jonathan Ying
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15:00-15:50
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《High Speed Digital Signal In Socket》
本主题我们特邀了Twinsolution的技术专家施元军来给大家分享在socket中的高速数字信号处理问题。
做测试的兄弟姐妹们都知道，芯片的测试离不开socket，而socket的选用将直接影响到测试的质量及效率，特别是高速的数字或者模拟信号，那么如何选用一款合适的socket是个非常专业的问题，就让我们一起来聆听资深专家的独到见解
相信通过本次的探讨，大家对socket的认知将会更加深入，工作中也更有帮助，一起期待吧……
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16:00-16:50
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《边界扫描测试技术详解》
SOC系列的IC测试里，总少不了边界扫描技术的应用，那么什么是边界扫描？为什么要用到边界扫描？边界扫描的原理又是什么？作为芯片测试工程师的你，这些问题你都清楚吗？别在犹豫，一起来参与我们的大讨论吧，听听测试专家深入浅出的讲解吧
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PowerValue资深专家 ---田雄伟
毕业于天津大学，曾担任JTAG亚太区首席技术专家,现担任PowerValue公司资深专家.田先生在边界扫描及系统测试领域拥有十几年的经验,包括服务器，通信，交换机，汽车电子，医疗设备，航海设备等等，尤其在高速信号测试(DDR, SATA, PCI-E)和在线编程算法方面，有着深入的研究。此外，在测试系统开发和集成方面，他也有丰富的经验。
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17:00-17:30
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自由交流、合影留念
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除了技术大餐外，我们还特别准备了众多给力的礼品，此次的礼品据说更加贴心，更加给力！
小编偷偷从组委会那边打探到一些消息：据说有高大上的高清航拍无人机（听说很好玩，期待中），
暖风机（冬天到了，有了她，还担心冷吗），多功能按摩器（累了一天的你，回到家用她帮你按摩按
摩，还是很舒服滴……），集成充电器的拖线板（用起来就是一个字：方便！哈哈）。
噢，对了，好像还有iPhone，不知道是真是假，不管你们信不信，反正小编信了，期待啊……！
暂时只能透露这么多了，小编已经激动的不行了，列位赶紧报名吧，晚了就没名额了……！
报名请将姓名，性别，职务，电话，公司，公司地址，QQ，Email等信息发送至：
邮箱：794277694@qq.com
Q Q：794277694 （添加请注明IC测试）
欢迎加入IC测试QQ群：111938408
为保证研讨质量，本次研讨会限额150人，报名截止日期11月1日，先报先得，大家抓紧，
未提前报名没有奖品哦……
本次活动仍以公益为主，场地费、茶点费大家均摊，费用￥50每人（现场缴纳即可），
上届参加的同学本届可以免费。特别说明：由于本活动是以技术交流为主，故如有销售人员需要参
加，费用为￥100每人，敬请理解~~
如下为前几届的活动详情，可以先感受一下：
1、第一届IC测试研讨会详情 第一届现场报道
2、第二届IC测试研讨会详情 第二届现场报道
3、第三届IC测试研讨会详情 第三届现场报道
4、第四届IC测试研讨会详情 第四届现场报道
5、第五届IC测试研讨会详情 第五届现场报道
IC测试QQ群及维修公众号二维码：
ictest8.com 活动小组
2015.10.08
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